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龙图腾网获悉深圳市紫光同创电子有限公司申请的专利存储器测试方法、系统、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114627950B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210157495.3，技术领域涉及：G11C29/18；该发明授权存储器测试方法、系统、设备及存储介质是由韦王宇;潘超设计研发完成，并于2022-02-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本存储器测试方法、系统、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提出一种存储器测试方法、系统、设备及存储介质，该方法包括：根据待测存储器的位宽，获取测试输入数据；根据测试输入数据，按照预设时序规则，构造测试元素；对待测存储器依次执行各个测试元素；预设时序规则满足如下条件：读完上一地址后，写当前地址，上一地址对应的单元存储值与当前地址对应的单元存储值不等，上一地址和当前地址在逻辑地址顺序上、在物理地址顺序上均相邻。本发明通过增加时序余量不足的测试元素，可以防止待测存储器发生漏检的情况，提高了该存储器测试方法的测试覆盖率，提高了出产存储器的合格率，降低了使用者的因芯片不合格而带来的损失。

本发明授权存储器测试方法、系统、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种存储器测试方法，其特征在于，包括： 根据待测存储器的位宽，获取测试输入数据； 根据所述测试输入数据，按照预设时序规则，构造测试元素； 对所述待测存储器依次执行各个测试元素，根据测试结果判断所述待测存储器是否合格； 所述预设时序规则满足如下条件： （一）读完上一地址后，写当前地址，（二）所述上一地址对应的单元存储值与所述当前地址对应的单元存储值不等，（三）所述上一地址和所述当前地址在逻辑地址顺序上、在物理地址顺序上均相邻； 所述根据所述测试输入数据，按照预设时序规则，构造测试元素，包括： 对所述上一地址进行写入所述测试输入数据操作，写入完成后，再以所述测试输入数据为背景数据对所述上一地址进行读操作； 对所述当前地址进行写入相反测试数据操作，写入完成后，再以所述相反测试数据为背景数据对所述当前地址进行读操作，所述相反测试数据为所述测试输入数据取反； 若所述上一地址的读取值与所述当前地址对应的单元存储值相等，则判断所述待测存储器存在时序余量不足的缺陷，否则，判断所述待测存储器合格； 按照地址序列升序的顺序，将所述当前地址重新作为所述上一地址，将所述当前地址的下一地址重新作为所述当前地址，重复上述过程，对所有的地址检测完。

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