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龙图腾网获悉中国科学院大学;中国科学院高能物理研究所申请的专利一种平板多晶样品晶粒形貌重构方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116124809B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111339773.9，技术领域涉及：G01N23/207；该发明授权一种平板多晶样品晶粒形貌重构方法及装置是由易栖如;张杰设计研发完成，并于2021-11-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种平板多晶样品晶粒形貌重构方法及装置在说明书摘要公布了：本申请涉及一种平板多晶样品晶粒形貌重构方法及装置，属于材料取向和应变分布测量技术领域，解决了现有测量技术对平板样品造成不可逆的损伤的技术问题。该方法包括：确定平板多晶样品的检测区域；对检测区域进行X射线衍射，获取检测区域在不同旋转角下的衍射图像和衍射斑对应的布拉格角；根据布拉格角，确定衍射斑对应的晶面类型和晶面法向量；根据衍射图像，确定衍射斑的衍射斑参数；根据旋转角、晶面类型、衍射斑参数和先验晶粒结构数据，分别重构各晶粒的晶粒形貌，先验晶粒结构数据包括晶粒各晶面对应的衍射投影数据以及晶粒的晶胞参数。本申请提供的技术方案不需要从平板多晶样品上取样，就能得到检测区域的晶粒形貌，从而避免对平板多晶样品造成损伤。

本发明授权一种平板多晶样品晶粒形貌重构方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种平板多晶样品晶粒形貌重构方法，其特征在于，包括： 确定平板多晶样品的检测区域； 对所述检测区域进行X射线衍射，获取所述检测区域在不同旋转角下的衍射图像和衍射斑对应的布拉格角； 根据所述布拉格角，确定衍射斑对应的晶面类型和晶面法向量； 根据所述衍射图像，确定所述衍射斑的衍射斑参数； 根据所述旋转角、所述晶面类型、所述晶面法向量、所述衍射斑参数和先验晶粒结构数据，分别重构各晶粒的晶粒形貌，所述先验晶粒结构数据包括晶粒各晶面对应的衍射投影数据以及晶粒的晶胞参数； 其中，所述根据所述旋转角、所述晶面类型、所述晶面法向量、所述衍射斑参数和先验晶粒结构数据，分别重构各晶粒的晶粒形貌，包括： 根据所述先验晶粒结构数据和所述晶面类型，确定晶粒的轴角； 根据所述晶面类型、所述晶面法向量、所述轴角和所述旋转角，确定属于同一晶粒的衍射斑； 根据所述先验晶粒结构数据以及所述属于同一晶粒的衍射斑对应的衍射斑参数和晶面类型，重构相应晶粒形貌； 所述根据所述晶面类型、所述晶面法向量、所述轴角和所述旋转角，确定属于同一晶粒的衍射斑，还包括： 根据不同的旋转角，分别确定第一衍射斑和第二衍射斑，以及所述第一衍射斑对应的旋转角和所述第二衍射斑对应的旋转角的差值；所述第一衍射斑对应第一晶面，所述第二衍射斑对应第二晶面； 根据所述第一晶面的晶面类型和所述第二晶面的晶面类型，所述第一晶面和所述第二晶面的轴角； 利用下述公式分别计算目标晶面法向量： ； 用于表征平板多晶样品的旋转轴的单位向量，用于所述第一晶面的晶面法向量或所述第二晶面的晶面法向量，ω用于表征所述第一衍射斑对应的旋转角和所述第二衍射斑对应的旋转角的差值，用于表征所述目标晶面法向量，所述目标晶面法向量为所述第一晶面旋转ω后的晶面法向量或所述第二晶面旋转ω后的晶面法向量； 当所述目标法向量对应所述第一晶面时，所述晶面法向量和所述第二晶面的晶面法向量的夹角与所述轴角相匹配时，确定所述第一晶面和所述第二晶面属于同一个晶粒；当所述目标法向量对应所述第二晶面时，所述晶面法向量和所述第一晶面的晶面法向量的夹角与所述轴角相匹配时，确定所述第一晶面和所述第二晶面属于同一个晶粒。

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