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龙图腾网获悉中国科学院工程热物理研究所申请的专利基于动态校准的辐射测温装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119595121B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411777234.7，技术领域涉及：G01J5/53；该发明授权基于动态校准的辐射测温装置及方法是由李勋锋;宋刚琦;周敬之;许闽;成克用设计研发完成，并于2024-12-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于动态校准的辐射测温装置及方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于动态校准的辐射测温装置及方法，涉及辐射测温技术领域。该装置用于测量热端部件的温度信息，包括第一透镜组、测温探头、第二透镜组、光开关、滤光片、光电探测器、预放大器、采集监控系统和控制器，其中：热端部件表面辐射出的光谱能量经过测温探头内的第一透镜组收集和第二透镜组聚焦后，经过滤光片后，获得对应的测温特征波长；光电探测器为热电制冷型，测温特征波长入射到光电探测器进行探测，获得对应的电信号，电信号经过预放大器放大为可采集的电压信号，再由采集监控系统进行采集和后处理，获得热端部件的温度信息；光开关设置于滤光片前端，且通过控制器来控制打开或关闭，控制器由采集监控系统进行控制。

本发明授权基于动态校准的辐射测温装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于动态校准的辐射测温装置，用于测量热端部件（1）的温度信息，其特征在于，所述辐射测温装置包括第一透镜组（2）、测温探头（3）、第二透镜组（4）、光开关（5）、滤光片（6）、光电探测器（7）、预放大器（9）、采集监控系统（10）和控制器（12），其中： 所述第一透镜组（2）和第二透镜组（4）设置于测温探头（3）内部相对的两侧，所述热端部件（1）表面辐射出的光谱能量经过所述测温探头（3）内的第一透镜组（2）收集和第二透镜组（4）聚焦后，经过滤光片（6）后，获得与所述光谱能量对应的测温特征波长； 所述光电探测器（7）为热电制冷型，所述测温特征波长入射到光电探测器（7）进行探测，获得与所述测温特征波长对应的电信号，所述电信号经过预放大器（9）放大为可采集的电压信号，再由采集监控系统（10）进行采集和后处理，获得所述热端部件（1）的温度信息； 所述光开关（5）设置于所述滤光片（6）前端，且通过控制器（12）来控制打开或关闭，所述控制器（12）由采集监控系统（10）进行控制。

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