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龙图腾网获悉南京大学申请的专利一种微区扫描成像装置及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119619080B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411758689.4，技术领域涉及：G01N21/55；该发明授权一种微区扫描成像装置及测量方法是由奚啸翔;刘敢设计研发完成，并于2024-12-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种微区扫描成像装置及测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种微区扫描成像装置及测量方法，包括激光器Laser及将激光汇聚在样品S上的双轴扫描振镜SM、立方分束器CB、显微物镜OB，立方分束器CB将激光照射到样品S后反射的信号光分光至样品信号探测器SD，在立方分束器CB和样品信号探测器SD之间还设有板状分束器PB，以将信号光进一步分光至激光探测器PD；测量过程中，先基于样品信号探测器SD获得样品S表面的二维特征光信号图，再将空白基板放置在待测区域，基于激光探测器PD获得基板上与样品S相同区域内的二维反射光信号图，基于二维反射光信号图对二维特征光信号图进行归一化处理，获得归一化处理后二维特征光信号图，并进一步绘制样品S物理性质的二维空间扫描图。本发明适用于荧光光谱、拉曼光谱和二次谐波等信号采集，通过在样品表面进行二维激光扫描，实现各种材料微区的高分辨成像。

本发明授权一种微区扫描成像装置及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种微区扫描成像装置的测量方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、将载有样品S的基板放置在待测区域； S2、启动激光器Laser并调节显微物镜OB，将激光聚焦至样品S表面，设置双轴扫描振镜SM在X轴、Y轴的扫描角度范围、角度步长，使激光光束在样品S表面进行逐点扫描，基于样品信号探测器SD获得样品S表面的二维特征光信号图； S3、将空白基板放置在待测区域，重复S2激光扫描过程，基于激光探测器PD获得基板上与S2中样品S表面相同区域内的二维反射光信号图； S4、基于二维反射光信号图对二维特征光信号图进行归一化处理，获得归一化处理后二维特征光信号图； S5、基于归一化处理后二维特征光信号图，分析各个像素点对应的样品物理性质参数，绘制样品S物理性质的二维空间扫描图； 所述微区扫描成像装置，包括激光器Laser，在所述激光器Laser出射激光所在的激光光路上依次设置有用于将激光汇聚在样品S上的双轴扫描振镜SM、显微物镜OB，在所述双轴扫描振镜SM、显微物镜OB之间设有立方分束器CB，用于将激光照射到样品S后反射的信号光分光至样品信号探测器SD进行信号采集，在立方分束器CB和样品信号探测器SD之间的信号光所在光路上设置有板状分束器PB，用于将信号光进一步分光至激光探测器PD进行信号采集。

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