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龙图腾网获悉杭州广立微电子股份有限公司申请的专利一种集成电路测试中小电流数据的处理方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114460438B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111677494.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种集成电路测试中小电流数据的处理方法是由吴鑫;成家柏;陈巍;杨靖;毛渲设计研发完成，并于2021-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种集成电路测试中小电流数据的处理方法在说明书摘要公布了：本发明提供的集成电路测试中小电流数据的处理方法，包括：获取现有测试设备的若干小电流数据，拟合得到电流随时间变化的函数：y＝a×lnb×t+c+d；获取需处理的小电流数据；对需处理的小电流数据进行拟合，得到电流随时间变化的线性函数：y＝e×t+f和曲线函数：y＝a1×lnb1×t+c1+d1；设新测试设备基准电流数值为yBL，根据公式y＝e×t+f得到tBL；y＝e×t+f与y＝a1×lnb1×t+c1+d1存在两个交点，横坐标值为t1、t2，判断tBL与t1、t2的大小，计算N次测试时间范围；对位于N次测试时间范围内的N个小电流数据取平均值得到的标准小电流数据。通过该小电流数据的处理方法，使客户在使用新测试设备时，能够对新测试设备的小电流数据进行补偿，匹配客户现有设备的小电流数据。

本发明授权一种集成电路测试中小电流数据的处理方法在权利要求书中公布了：1.一种集成电路测试中小电流数据的处理方法，其特征在于，包括： 步骤S1.获取测试设备已有的测试得到的若干小电流数据，拟合得到电流随时间变化的目标函数：y＝a×lnb×t+c+d，其中，a、b、c、d为常数，y为电流值，t为时间； 步骤S2.获取测试设备新测得的需处理的小电流数据； 步骤S3.对所述需处理的小电流数据进行拟合，得到电流随时间变化的线性函数：y＝e×t+f，其中，e和f为常数； 对所述需处理的小电流数据进行拟合，得到电流随时间变化的曲线函数：y＝a1×lnb1×t+c1+d1，其中，a1、b1、c1、d1常数； 步骤S4.设对标设备所测试的基准电流数值为yBL，根据公式y＝e×t+f反推得到tBL； 步骤S5.所述线性函数y＝e×t+f与曲线函数y＝a1×lnb1×t+c1+d1存在两个交点，记所述两个交点的横坐标值为t1、t2，其中，t1t2； 若tBLt1，计算t1 tBLΔt，对计算得到的值进行取整得到n，测试次数N＝2×n，N次测试的时间范围为tBL n×Δt，tBL+n×Δt，最佳测试稳定时间=tBL n×Δt ，或，N次测试的时间范围为t1 n×Δt，t1+n×Δt，最佳测试稳定时间=t1 n×Δt；其中，Δt为相邻两个待处理的小电流数据采集的时间间隔； 若t1tBLt2，计算tBL t1Δt，对计算得到的值进行取整得到n，测试次数N＝2×n，N次测试的时间范围为tBL n×Δt，tBL+n×Δt，最佳测试稳定时间=tBL n×Δt； 若tBLt2，计算tBL t2Δt，对计算得到的值进行取整得到n，测试次数N＝2×n，N次测试的时间范围为t2 n×Δt，t2+n×Δt，最佳测试稳定时间=t2 n×Δt，其中，Δt为相邻两个待处理的小电流数据采集的时间间隔； 步骤S6.对所述若干待处理的小电流数据中位于所述N次的测试时间范围内的N个小电流数据取平均值，所述平均值即为得到的标准小电流数据。

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