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龙图腾网获悉北京华航无线电测量研究所申请的专利电子产品加速贮存寿命试验评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116413528B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210109223.6，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权电子产品加速贮存寿命试验评估方法是由邓广宁;叶志坤;胡秋实;薛崇峰设计研发完成，并于2022-01-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本电子产品加速贮存寿命试验评估方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种电子产品加速贮存寿命试验评估方法，属于加速贮存寿命试验技术领域，解决了现有技术中国内装备贮存寿命和可靠性研究的不足，电子产品贮存寿命试验能力与评价能力低的问题。该方法，包括：对待评估产品进行高温应力测试，得到电子产品在高温应力测试内发生故障的故障次数以及故障时间；根据所述高温应力测试内发生故障的故障次数以及故障时间，计算常温应力下总试验时间；根据所述常温应力下总试验时间评估产品贮存寿命。

本发明授权电子产品加速贮存寿命试验评估方法在权利要求书中公布了：1.一种电子产品加速贮存寿命试验评估方法，其特征在于，包括： 对待评估产品进行高温应力测试，得到电子产品在高温应力测试内发生故障的故障次数以及故障时间，包括： 阶段高温应力测试，包括：以Tj为第j阶段高温应力测试的高温应力，对n个产品进行测试，在高温应力Tj下保温M天后，之后恢复到正常温度应力T0，在正常温度应力下保温N小时后进行通电测试，其中j初值为1； 若通电后无故障或出现B类故障，则以当前阶段的试验温度继续作为第j+1阶段高温应力测试的高温应力进行第j+1阶段高温应力测试； 若通电后出现一次A类故障，则将当前阶段的高温应力Tj减Tth之后，作为第j+1阶段高温应力测试的高温应力进行第j+1阶段高温应力测试； 当测试时间达到测试总时间Tz，或出现A类故障次数为k时，结束测试； 统计高温应力测试期间待评估产品发生A类故障的故障次数i以及第i次A类故障对应的故障时间ti； 所述故障时间为第一阶段高温应力测试开始至检测出第i次A类故障时对应的时间； 所述待评估产品在正常温度应力检测时为通电状态，试验过程中其他阶段均为不通电状态； 根据所述高温应力测试内发生故障的故障次数以及故障时间，计算常温应力下总试验时间； 根据所述常温应力下总试验时间评估产品贮存寿命。

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