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龙图腾网获悉北京理工大学重庆创新中心申请的专利一种光谱成像仪辐射亮度校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119714532B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411900193.6，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权一种光谱成像仪辐射亮度校正方法是由张宇寒;吴聪;余江华;于鑫;肖尧设计研发完成，并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光谱成像仪辐射亮度校正方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种光谱成像仪辐射亮度校正方法，利用已完成辐射定标的光谱成像仪结合BP神经网络，对已知DN值响应的光谱成像仪完成辐射校正，解决了传统方法对高昂定标仪器、复杂定标操作和严苛试实验条件的依赖。只需要使用未校准光谱成像仪与已校准光谱成像仪同时拍摄若干幅未知场景的图像，分析计算已校准光谱成像仪与未校准光谱成像仪的拍摄角度与图像分辨率空间几何关系。利用BP神经网络拟合已校准光谱成像仪的DN值图像与其辐射亮度图像的映射关系。基于两台光谱成像仪的拍摄的DN值图像数值关系与已分析出的空间几何关系，利用拟合的映射关系，由未校准光谱成像仪拍摄的DN值计算出其辐射亮度。

本发明授权一种光谱成像仪辐射亮度校正方法在权利要求书中公布了：1.一种光谱成像仪辐射亮度校正方法，其特征在于，包括： 获取若干组在不同地点拍摄的基准光谱图像和待校准光谱图像；其中，所述基准光谱图像由已完成辐射校正的基准光谱成像仪拍摄而成，所述待校准光谱图像由待校准光谱成像仪拍摄而成；同组的基准光谱图像与待校准光谱图像为画面中心匹配的图像； 根据基准光谱成像仪与待校准光谱成像仪的拍摄时的视场角和偏移角度，以及形成的光谱图像的像素尺寸，计算待校准光谱图像对应于基准光谱图像的像素点数量； 以基准光谱图像上像素点的DN值为BP神经网络的输入，以像素点对应定标处理后的辐射亮度作为BP神经网络的输出，生成n1个点对点的BP神经网络，其中，n1为基准光谱图像的像素点数量；训练所述BP神经网络，获取基准光谱图像的DN值与辐射亮度的映射关系； 对于待校准光谱图像上任一空间位置像素点，根据基准光谱图像和待校准光谱图像的像素点数量和像素尺寸，确定基准光谱图像上与该点对应的像素点坐标； 根据基准光谱图像与待校准光谱图像上空间位置对应的像素点的DN值差异计算空间校正参数； 结合所述空间校正参数和BP神经网络中DN值与辐射亮度的映射关系，对待校准光谱成像仪新拍摄的光谱图像中任意一点的辐射亮度进行标定；其中，将图像像素点经过空间校正参数修正后的DN值，输入至训练好的BP神经网络。

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