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龙图腾网获悉合肥沛顿存储科技有限公司申请的专利一种芯片测试流程自动更新方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119718805B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411862356.6，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权一种芯片测试流程自动更新方法及系统是由刘旭;杨子恒;张涯晴;王根;姜慧玉设计研发完成，并于2024-12-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试流程自动更新方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片测试流程自动更新方法及系统，通过自动化手段实现测试流程的动态更新、信息传递和参数校验，以解决现有测试流程管理的低效和错误率高的问题。本发明的核心是建立一个芯片测试流程自动更新系统，通过读取批次属性值，自动识别并配置适当的测试流程，减少人为操作干预。系统的流程涵盖了从批次信息获取、数据校验到自动化配置测试机台的全流程，并通过设计配置表实现了高效的信息匹配和更新。相比于现有技术，本发明中的自动化更新功能减少了测试流程的人为干预和重建，显著提升了测试效率；通过批次属性自动获取和自动配置，实现了测试流程的灵活管理，适应不同批次和产品的测试需求，提升了系统的适应性和扩展性。

本发明授权一种芯片测试流程自动更新方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试流程自动更新方法，其特征在于，包括步骤： S1、获取即将投入生产测试的芯片批次属性值； 所述属性值包括用于标识芯片批次的Lot ID、用于标识芯片型号或系列的Device、生产或处理阶段代码Stage Code、用于标识芯片扩展信息的EXID、CP测试的Bin等级CP Bin以及CP测试的版本号CP Version； S2、基于属性值，进行制程检测并输出测试程序信息； 使用配置表定义制程检测规则和逻辑，配置表包括制程检索表、生产信息配置表和生产信息校验表；所述制程检索表包括由客户工单解析得到的Device、Stage code、EXID、CP Bin、CP version和制程ID信息，所述生产信息配置表包括由客户工单解析得到的用于部署生产信息的制程ID、注册时间、程式包名称、程式版本、程序MD5、Function key和Retest bin信息；所述生产信息校验表用于核验输出信息格式是否正确，内容固定字符是否满足要求； 所述制程检测包括以下流程： 判断获取到的属性值中是否存在制程ID，通过有无制程ID识别该测试批次是否有特殊测试要求以及是否为首站；若存在制程ID，则通过制程ID直接关联到生产信息配置表，抓取并输出最新注册时间的生产信息；若不存在制程ID，则将获取到的属性值与制程检索表中的信息进行检索匹配以定位到批次所属于的制程ID，再通过制程ID关联到生产信息配置表，抓取并输出最新注册时间的生产信息；所述生产信息包括程式包名称和程式包MD5、Function key和Retest bin； S3、根据测试程序信息将相应的测试程序包和生产信息下载到测试设备； 从程式包存放服务器里获取与步骤S2输出程式包名称完全一致的程式包并下载到测试设备上；计算下载的程式包的MD5值并与步骤S2输出的程式包MD5进行校验，若两者相同则继续下一步，否则停止开批并报警；将步骤S2输出的Function key传递到测试设备，实现测试设备的Function key配置；将步骤S2输出的Retest bin传递到测试设备，实现测试设备的Stocker自动分区配置和重测Bin配置。

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