买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉西安华德航天科技有限公司申请的专利一种PCB板卡动态烧录状态监控方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120525882B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511020841.3，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种PCB板卡动态烧录状态监控方法及系统是由赵正瑞;陈庆文设计研发完成，并于2025-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种PCB板卡动态烧录状态监控方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种PCB板卡动态烧录状态监控方法及系统，涉及PCB板卡烧录工艺监控以及图像处理技术领域，该申请能够对烧录过程中的关键操作状态进行多维度监测与异常识别，实现了从图像采集、路径分析、接触状态评估到电气波动监控的全过程覆盖。系统采用图像算法结合压接行为建模技术，不仅可精确识别探针压接路径偏移、接触不一致、时序失配等机械异常，还可检测微接触电阻变化等电气异常，增强监控精度与实时性。通过构建异常风险时间锚点并接入区块链存证，保障数据可信性与后续可追溯性，同时配套锁定与告警机制，实现设备异常的自动隔离与闭环管理，有效提高烧录质量一致性、设备运行稳定性与维护效率。

本发明授权一种PCB板卡动态烧录状态监控方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种PCB板卡动态烧录状态监控方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一、对烧录工位的多个关键作业单元进行识别与编号登记；通过工业相机采集第i个作业单元在烧录周期t内图像序列集，基于图像处理算法识别探针下压路径的微角度偏移，计算第i个作业单元在烧录周期t内的定位偏移系数Di，t和错接异常指数CYi，t并评估，当存在定位异常风险时，生成第一定位风险记录，触发第一报警信号； 定位偏移系数Di，t的具体公式为： 其中，θj表示第j帧中探针轨迹与标准路径之间的偏移角度，δj表示第j帧中针尖相对于标准压接起始点的二维像素位移；n表示图像帧数，α和β表示权重系数； 错接异常指数CYi，t的具体公式为： 其中，N表示测的探针针尖与对应焊盘点对的总数；表示第k个探针针尖的实际三维坐标，表示对应第k个焊盘的标准三维坐标；||·||表示欧式距离； 步骤二、基于第i个作业单元在烧录周期t内图像序列集中，识别连续图像帧中探针压缩高度变化，计算第i个作业单元的接触一致性指数Ci，t并评估，若存在同组探针接触异常风险，生成第二风险记录，触发第二报警信号； 接触一致性指数Ci，t，用于衡量压缩高度的整体离散程度，公式如下： 其中，表示第i个作业单元在烧录周期t内同组探针的压缩高度值集合的标准差，表示第i个作业单元在烧录周期t内同组探针的压缩高度值集合的平均值； 步骤三、从第i个作业单元在烧录周期t内图像序列集提取接触发生时刻的图像帧，识别获取第k个探针在第f帧的压缩形变量变化率针尖反光区域亮度变化量探针与PCB接触区域图像的边缘梯度幅度和探针压接状态在第f帧之后持续的稳定时间在判定接触发生时刻后，采集接触动作发生时间与通电控制时间计算第i个作业单元的接触时序偏移指数并评估，当判定存在接触时序异常风险，生成第三时序异常风险记录，触发第三报警信号； 第k个探针在第f帧的压缩形变量变化率通过以下公式计算获取： 其中，和表示从第i个作业单元在烧录周期t内图像序列集提取接触发生时刻的图像帧，提取第f帧和上一帧的探针压缩高度； 接触时序偏移指数的获取方式为： 依据判定接触发生时刻的条件，提取自接触发生时刻的图像帧，获取接触动作发生时间与通电控制时间计算第i个作业单元的接触时序偏移指数步骤四、在步骤三判定接触发生时刻后，采集微电压抖动值序列，结合图像序列集，计算获取第i个作业单元在烧录周期t内的微接触阻抗异常系数Zi→t并评估，当判定存在微接触异常，生成第四微接触异常风险记录，触发第四报警信号； 第i个作业单元在烧录周期t内的微接触阻抗异常系数Zi→t的获取方式具体为： 结合第i个作业单元在烧录周期t内微电压抖动值序列的峰‑峰幅度归一化值和抖动序列标准差归一化值计算第i个作业单元在烧录周期t内的综合电压波动指数ΔVi→t： 公式中，q1表示针对第i个作业单元在烧录周期t内微电压抖动值序列的峰‑峰幅度归一化值权重，q2表示抖动序列标准差归一化值权重； 从第i个作业单元在烧录周期t内图像序列集，识别获取第i个作业单元的针尖压缩完整性指数和针列排列整齐度指数并通过以下公式计算获取第i个作业单元在烧录周期t的图像惩罚因子Pci→t； 结合第i个作业单元在烧录周期t内的综合电压波动指数ΔVi→t和i个作业单元在烧录周期t的图像惩罚因子Pci→t，计算第i个作业单元在烧录周期t内的微接触阻抗异常系数Zi→t：Zi→t＝r1ΔVi→t+r2Pci→t； 公式中，r1和r2为权重； 针尖压缩完整性指数的具体步骤为： 设压接状态帧中识别的第m个探针压缩深度为hm，压缩深度目标为htarget，并预设接受偏差为δh，满足|hm‑htarget|≤δh判定为压接达标，并通过以下公式计算获取第i个作业单元的针尖压缩完整性指数其中，I·表示指示函数，条件满足时为1，否则为0，M为针数总数；越接近1，表示整体压缩状态良好；值低则压缩不一致或不到位； 识别获取第i个作业单元的针列排列整齐度指数的具体步骤为： 将每个探针头部额定中心像素坐标为xm，ym，对探针横向或纵向排列的点集合进行线性拟合，获取第i个作业单元的针列排列整齐度指数其中，|ym‑axm+b|表示最小二乘法拟合得到的直线方程后第m个探针到拟合直线的垂直偏差，a和b为拟合直线的斜率和截距，D表示归一化尺度参数，设置为最大允许阵列偏差。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安华德航天科技有限公司，其通讯地址为：710000 陕西省西安市高新区西部大道170号丰泽科技园5号楼302；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。