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龙图腾网获悉长春黄金研究院有限公司申请的专利银中杂质系列质控样品及其制备方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120558674B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511046162.3，技术领域涉及：G01N1/28；该发明授权银中杂质系列质控样品及其制备方法是由赵可迪;芦新根;郭嘉鹏;葛仲义;穆洪运;王继尧;李甘甜;阚春海设计研发完成，并于2025-07-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本银中杂质系列质控样品及其制备方法在说明书摘要公布了：本申请提供了一种银中杂质系列质控样品及其制备方法，属于化学质控样品制备领域，通过将第一组金属用银片包裹并埋入银粉中，在真空环境下经升温熔化后加入第二组金属熔融，浇铸得到第一杂质样品；重复熔化浇铸过程两次，分别得到第二杂质样品和第三杂质样品，经轧片处理，得到银中杂质系列质控样品。本申请通过分步熔炼和淬火工艺等手段制备高含量杂质元素样品，以其为原料进行稀释，保证了低含量的杂质元素均匀、稳定地熔入银中，提高了杂质元素含量的可控程度，保证制备的质控样品均匀可靠。本申请提供的银中杂质系列质控样品除主元素银外，含有金、铋、铜、铁、铅、钯、锑、硒、碲、锌10种元素，能够满足高银合金检测全流程质量控制需求。

本发明授权银中杂质系列质控样品及其制备方法在权利要求书中公布了：1.一种银中杂质系列质控样品的制备方法，其特征在于，包括以下步骤： S1.分别称取8种杂质元素金属、黄铜及纯银，所述8种杂质元素金属为Au、Bi、Fe、Pb、Pd、Sb、Se、Te；所述纯银包括银片和银粉；将Bi、Pb、Sb、Se、Te及黄铜作为第一组金属，将Au、Fe、Pd作为第二组金属； S2.将所述第一组金属用银片包裹后，置于底部铺有银粉的容器中，覆盖银粉掩埋包裹体；将容器置于真空环境中，以预定速率升温至第一预设温度使容器预热，其后，升温至第二预设温度并保温预定时间，待金属全部熔化后，加入所述第二组金属，磁力搅拌下继续升温至第三预设温度，金属全部熔化后，浇铸至预热模具中，经凝固、冷却、淬火、清洗及干燥，得到第一杂质样品； S3.截取所述第一杂质样品，置于底部铺有银粉的容器中，覆盖银粉掩埋样品；将容器置于真空环境中，以预定速率升温至第一预设温度使容器预热，其后，升温至第二预设温度并保温预定时间，磁力搅拌下继续升温至第三预设温度，金属全部熔化后，浇铸至预热模具中，经凝固、冷却、淬火、清洗及干燥，得到第二杂质样品； S4.截取所述第二杂质样品，置于底部铺有银粉的容器中，覆盖银粉掩埋样品；将容器置于真空环境中，以预定速率升温至第一预设温度使容器预热，其后，升温至第二预设温度并保温预定时间，磁力搅拌下继续升温至第三预设温度，金属全部熔化后，浇铸至预热模具中，经凝固、冷却、淬火、清洗及干燥，得到第三杂质样品； S5.将所述第一杂质样品、所述第二杂质样品、所述第三杂质样品经轧片处理，得到银中杂质系列质控样品。

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