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龙图腾网获悉陕西澳威激光科技有限公司申请的专利一种光电子器件生产质量检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120562215B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511064258.2，技术领域涉及：G06F30/23；该发明授权一种光电子器件生产质量检测方法及系统是由高星;刘金超;宋乐乐;高建峰;惠铁雄;石元设计研发完成，并于2025-07-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光电子器件生产质量检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光电子器件生产质量检测方法及系统，涉及光电子器件生产检测技术领域，该系统通过高精度数据采集与多物理场耦合建模技术，实现了生产参数、环境感知参数及质量检测参数的全面整合与精准分析，采用光‑电‑热多物理场耦合模型，突破了传统单一场模拟的局限，结合加速仿真与短板量化技术，通过短板应力阈指数的动态设定、短板突出指数标注及重合次数分析，实现从单因素评估到多因素协同短板定位的跨越，通过量化评估多应力协同作用下的器件性能退化，高效、精准地定位光电子器件质量缺陷的主导因素，实现了对光电子器件的生产质量的精准分级。

本发明授权一种光电子器件生产质量检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种光电子器件生产质量检测方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤一：生产过程参数实时采集，生产完成后的质量检测与参数采集； 步骤二：光‑电‑热耦合模型构建； 步骤三：控制光‑电‑热耦合模型进行各类因素的加速仿真，进而获取各类因素的应力表现指数，控制光‑电‑热耦合模型进行各两类因素的加速仿真，进而获取各两类因素的应力表现指数； 基于各类因素的应力表现指数以及各两类因素的应力表现指数，确定光电子器件的质量指数：将各类因素的应力表现指数进行求和计算，计算出单因素应力表现总指数，根据各两类因素的应力表现指数计算各两类因素的短板应力指数，将所有短板应力指数进行求和均值计算，计算出平均短板应力指数，设定短板应力阈指数，当短板应力指数高于短板应力阈指数，将该短板应力指数标注为短板突出指数，将所有短板突出指数进行两两比对，当比对的两个短板突出指数存在相同的因素时，将短板重合次数增加一个，基于单因素应力表现总指数、平均短板应力指数以及短板重合次数计算出该光电子器件的质量指数； 各两类因素的短板应力指数的确定步骤：选择两类因素，获取该两类因素的应力表现指数，获取该两类因素中每类因素的应力表现指数，将每类因素的应力表现指数进行求和均值计算，计算出平均应力表现指数，当两类因素的应力表现指数高于平均应力表现指数，将两类因素的应力表现指数与平均应力表现指数进行差值计算，计算出该两类因素的短板应力指数，当两类因素的应力表现指数不高于平均应力表现指数，将该两类因素的短板应力指数记为0； 步骤四：质量指数获取与等级评价。

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