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龙图腾网获悉京东方科技集团股份有限公司;云南创视界光电科技有限公司申请的专利一种OLED测试结构及其制备方法、测试装置、测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114121705B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111401853.2，技术领域涉及：H10K71/70；该发明授权一种OLED测试结构及其制备方法、测试装置、测试方法是由范龙飞;卢鹏程设计研发完成，并于2021-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种OLED测试结构及其制备方法、测试装置、测试方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种OLED测试结构及其制备方法、测试装置、测试方法，包括测试区，其中所述测试区中包括：多个子像素，所述多个子像素形成阵列排布的多个像素列，每一像素列中所述子像素并联设置；第一测试端子，所述第一测试端子包括一个电极环，所述电极环围绕所述测试区设置，且所述电极环为半封闭结构；还包括第二测试端子或第三测试端子，其中，所述第二测试端子与各个所述像素列连接；所述第三测试端子包括奇数列连接端子和偶数列连接端子，所述奇数列连接端子与奇数像素列连接，所述偶数列连接端子与偶数像素列连接。

本发明授权一种OLED测试结构及其制备方法、测试装置、测试方法在权利要求书中公布了：1.一种OLED测试结构，其特征在于，包括测试区，所述测试区包括第一测试区和第二测试区，其中所述测试区中包括： 多个子像素，所述多个子像素形成阵列排布的多个像素列，每一像素列中所述子像素并联设置，所述子像素包括发光元件及位于所述发光元件两侧的阳极和阴极； 第一测试端子，所述第一测试端子包括一个电极环，所述电极环围绕所述测试区设置，且所述电极环为半封闭结构； 还包括第二测试端子或第三测试端子，所述第二测试端子适用于第一测试区，所述第三测试端子第二测试区； 其中，所述第二测试端子与各个所述像素列连接； 所述第三测试端子包括奇数列连接端子和偶数列连接端子，所述奇数列连接端子与奇数像素列连接，所述偶数列连接端子与偶数像素列连接； 所述发光元件的阳极与所述第二测试端子或第三测试端子连接； 通过所述第一测试端子输入阴极电位，通过所述第二测试端子输入阳极电位，获得所述第二测试端子上的第一电流值； 通过所述第一测试端子输入阴极电位，通过所述第三测试端子中的奇数列连接端子输入阳极电位，通过偶数列连接端子输入零电位，获得所述偶数列连接端子上的第二电流值； 通过所述第一测试端子输入阴极电位，通过所述第三测试端子中的偶数列连接端子输入阳极电位，通过奇数列连接端子输入零电位，获得所述奇数列连接端子上的第三电流值； 通过所述第一测试端子输入阴极电位，通过所述第三测试端子中的奇数列连接端子和偶数列连接端子输入同一阳极电位，获得所述奇数列连接端子上的第四电流值，或者获得所述偶数列连接端子上的第五电流值； 其中，所述第一电流值、第四电流值和所述第五电流值用于评价第一漏电水平，所述第一漏电水平用于评价单一子像素之间的漏电情况，所述第二电流值和所述第三电流值用于评价第二漏电水平，所述第二漏电水平用于评价子像素的横向漏电情况。

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