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龙图腾网获悉同方威视科技(北京)有限公司;同方威视技术股份有限公司申请的专利辐射检查系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114152993B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111668939.1，技术领域涉及：G01V5/22；该发明授权辐射检查系统是由樊旭平;宋全伟;史俊平;何远;孟辉设计研发完成，并于2021-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本辐射检查系统在说明书摘要公布了：本公开涉及一种辐射检查系统，包括：辐射源，具有加速器靶点；和探测器臂，包括臂体和多个探测器模块，多个探测器模块沿臂体的长度方向在臂体上排布，每个探测器模块包括电路板和安装在电路板上的多个探测器晶体，每个探测器模块中的多个探测器晶体的安装方向相互平行，并且沿电路板上的参考直线排布且相对于参考直线呈预设夹角，多个探测器模块对应至少两种不同的预设夹角。本公开实施例能够改善生成的检查图像的质量。

本发明授权辐射检查系统在权利要求书中公布了：1.一种辐射检查系统，其特征在于，包括： 辐射源10，具有加速器靶点11；和探测器臂，包括臂体20和多个探测器模块30，所述多个探测器模块30沿所述臂体20的长度方向在所述臂体20上排布，每个探测器模块30包括电路板31和安装在所述电路板31上的多个探测器晶体32，所述每个探测器模块30中的所述多个探测器晶体32的安装方向相互平行，并且沿所述电路板31上的参考直线R排布且相对于所述参考直线R呈预设夹角，所述多个探测器模块30对应至少两种不同的预设夹角； 其中，所述多个探测器模块30包括多个探测器模块组30a; 30b; 30c; 30d; 30e; 30f，至少一个探测器模块组30a; 30b; 30c; 30d; 30e; 30f包括相邻设置的多个相同的探测器模块30，所述多个相同的探测器模块30中的每个探测器模块30对应的预设夹角不同于其他至少一个探测器模块组30a; 30b; 30c; 30d; 30e; 30f对应的预设夹角； 所述多个相同的探测器模块30相对于所述臂体20呈不同的安装角度，以使所述多个相同的探测器模块30中的每个探测器模块30的至少部分探测器晶体32沿安装方向的延长线12通过所述加速器靶点11。

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