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龙图腾网获悉深圳市华汉伟业科技有限公司申请的专利基于三维图像的表面缺陷检测方法及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114881944B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210436350.7，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于三维图像的表面缺陷检测方法及设备是由祝树杰;李杰明;杨洋;翟爱亭;黄淦设计研发完成，并于2022-04-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于三维图像的表面缺陷检测方法及设备在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于三维图像的表面缺陷检测方法及设备，该方法包括：获取目标物体结构化的三维图像数据；从结构化的三维图像数据中提取初级特征，得到目标物体的初级特征图；对初级特征图进行多尺度特征提取，得到与初级特征图等大的多尺度特征图；采用预训练的无效像素掩膜预测网络对初级特征图进行处理，得到与初级特征图等大的掩膜数据；根据掩膜数据对多尺度特征图进行特征裁剪，得到有效像素对应的特征图；从有效像素对应的特征图中提取高级特征，得到目标物体的高级特征图；根据高级特征图进行缺陷分类处理，得到目标物体的缺陷分类结果。通过在特征层面滤除无效像素，不仅提高了效率，而且提高了准确率。

本发明授权基于三维图像的表面缺陷检测方法及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于三维图像的表面缺陷检测方法，其特征在于，包括： 获取目标物体结构化的三维图像数据，所述三维图像数据包括高度信息，用于反映所述目标物体表面的形貌信息； 从所述结构化的三维图像数据中提取初级特征，得到所述目标物体的初级特征图； 对所述初级特征图进行多尺度特征提取，得到与所述初级特征图等大的多尺度特征图； 采用预训练的无效像素掩膜预测网络对所述初级特征图进行处理，得到与所述初级特征图等大的掩膜数据，所述掩膜数据用于标识无效像素和或有效像素的位置信息，所述无效像素掩膜预测网络包括第一卷积层、第一激活层、第二卷积层、第二激活层、第三卷积层和第三激活层，所述第三卷积层的卷积核大小为1×1，所述第三激活层采用的激活函数为Softmax激活函数，采用训练数据集对所述无效像素掩膜预测网络进行预训练，所述训练数据集中包含若干三维图像数据的初级特征图及其对应的掩膜数据的标注，采用第一标识符标识无效像素的位置信息，采用第二标识符标识有效像素的位置信息，其中，所述无效像素掩膜预测网络是根据第一损失函数采用反向传播算法进行训练得到的，所述第一损失函数根据如下表达式确定： 其中，L1表示第一损失函数的值，αs表示预设的权重，pg表示预测的置信度信息，pt表示标注的置信度信息； 根据所述掩膜数据对所述多尺度特征图进行特征裁剪，滤除无效像素对应的特征图，得到有效像素对应的特征图； 从有效像素对应的特征图中提取高级特征，得到所述目标物体的高级特征图； 根据所述高级特征图进行缺陷分类处理，得到所述目标物体的缺陷分类结果。

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