买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉艾迪奇股份公司申请的专利使用低相干光学干涉测量技术来确定在对材料激光加工的机器中的至少一个光学元件的局部位置的方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115038930B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080092699.2，技术领域涉及：G01B9/0209；该发明授权使用低相干光学干涉测量技术来确定在对材料激光加工的机器中的至少一个光学元件的局部位置的方法和系统是由西蒙·多那太罗;芭芭拉·普雷维塔利;达妮埃尔·科伦坡设计研发完成，并于2020-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本使用低相干光学干涉测量技术来确定在对材料激光加工的机器中的至少一个光学元件的局部位置的方法和系统在说明书摘要公布了：描述了一种用于确定与用于对材料激光加工的机器的工作头中的传输激光束的光路相关联的至少一个光学元件的局部位置的方法和系统，包括：产生相应的测量低相干光辐射束，朝向光学元件引导测量光束，并朝向光学干涉传感器布置引导由光学元件的反射或扩散的测量光束；产生参考低相干光辐射的相应光束，并且朝向干涉式光学传感器布置引导参考光束；将测量光束和参考光束叠加在传感器布置的公共入射区域上；检测测量光束和参考光束之间的干涉条纹图案在入射区域上的位置；以及根据干涉图案沿着入射区域的照射轴线的位置或干涉图案在频域内的频率来确定测量光路与参考光路之间的光学长度差，测量光路与参考光路之间的光学长度差表示a光学元件的当前局部位置与b光学元件的预定标称局部位置之间的差。

本发明授权使用低相干光学干涉测量技术来确定在对材料激光加工的机器中的至少一个光学元件的局部位置的方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种用于确定与对材料激光加工的机器的工作头中的激光束的传输光路相关联的至少一个光学元件的局部位置的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 产生相应的测量低相干光辐射束，朝向所述光学元件引导测量光束，并且引导由所述光学元件的至少一个背反射表面反射或扩散的所述测量光束，所述测量光束撞击在所述光学元件的至少一个背反射表面上、具有朝向光学干涉型传感器装置的至少部分背反射，其中，所述测量光束沿测量光路从相应的源行进至所述光学干涉型传感器装置，所述测量光路包括在所述源与所述光学元件的所述背反射表面之间的第一区段和在所述光学元件的所述背反射表面与所述光学干涉型传感器装置之间的第二区段，当所述光学元件在对应于预定操作条件的预定标称位置中时，所述第一区段和所述第二区段具有相应的预定标称几何长度，产生所述低相干光辐射的相应参考光束，并且朝向所述光学干涉型传感器装置引导所述参考光束，其中，所述参考光束沿参考光路行进，所述参考光路的光学长度等于在所述光学元件的位置处于所述预定标称位置的标称操作条件下的测量光路的光学长度； 将所述测量光束和所述参考光束沿着预定照射轴线叠加在所述光学干涉型传感器装置的公共入射区域上； 检测所述测量光束与所述参考光束之间的干涉条纹图案沿着所述照射轴线在所述公共入射区域上的位置，其中，所述干涉条纹图案沿着所述照射轴线的延伸对应于所述低相干光辐射的相干长度，或检测波长光谱中的条纹图案的频率，所述条纹图案是由所述测量光束与所述参考光束之间通过所述光束的波长色散的干涉来获得，所述条纹图案在频域内的延伸由所述低相干光辐射的相干长度来确定；以及对应地根据所述干涉条纹图案沿着所述入射区域的所述照射轴线的位置、或所述干涉条纹图案在所述频域内的频率来确定所述测量光路与所述参考光路之间的光学长度差，所述测量光路与所述参考光路之间的光学长度差表明a所述光学元件的当前局部位置与b所述光学元件沿着所述测量光束的轴线的预定标称局部位置之间的差。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人艾迪奇股份公司，其通讯地址为：意大利特伦托；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。