唐摩库柏公司朴龙根获国家专利权
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龙图腾网获悉唐摩库柏公司申请的专利三维折射率张量的测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115104021B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180005145.9，技术领域涉及：G01N21/41；该发明授权三维折射率张量的测量方法及装置是由朴龙根;申昇雨设计研发完成，并于2021-01-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本三维折射率张量的测量方法及装置在说明书摘要公布了：提供三维折射率张量的测量方法及装置。一实施例的三维折射率张量的测量方法包括：以至少一个角度和偏振控制平面波的入射光的步骤；以及以偏振相关方式测量试片相对于以至少一个角度和偏振入射的上述入射光的二维衍射光的步骤，可以测量包含双折射的上述试片中的双折射率值和多个分子的排列方向的三维结构。
本发明授权三维折射率张量的测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种三维折射率张量的测量方法，其特征在于，包括： 以至少一个角度和偏振控制平面波的入射光的步骤；以及以偏振相关方式测量试片相对于以至少一个角度和偏振入射的上述入射光的二维衍射光的步骤，上述三维折射率张量的测量方法测量包含双折射的上述试片中的双折射率值和多个分子的排列方向的三维结构，以偏振相关方式测量试片相对于上述入射光的二维衍射光的步骤利用以下方法：利用包括马赫‑曾德干涉仪、相移干涉仪及定量相位成像单元中的至少一种的时间和空间强度调制干涉仪，或者利用通过强度传输方程及傅里叶叠层成像中的至少一种来测量二维衍射光，利用由包含双折射的上述试片的空间旋转引起的双折射率的张量特性，将所测量的折射率张量对角化，从而对包含双折射的上述试片中的双折射率值及多个分子的排列方向进行三维断层重建。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人唐摩库柏公司，其通讯地址为：韩国大田市；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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