华中科技大学苏金龙获国家专利权
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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种基于毫米波辐射的复介电常数测量方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115290695B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211029198.7，技术领域涉及：G01N25/20；该发明授权一种基于毫米波辐射的复介电常数测量方法及系统是由苏金龙;胡飞;胡演设计研发完成，并于2022-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于毫米波辐射的复介电常数测量方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于毫米波辐射的复介电常数测量方法及系统，属于无源微波遥感与探测技术领域。方法包括利用多入射角度下测量得到的目标的水平极化亮温和垂直极化亮温，通过数据分析得到各个入射角度下的PDoP，最后基于PDoP测量值反演得到复介电常数。本发明不需要测量目标的物理温度和环境亮温即可得到目标的复介电常数；辐射计测量噪声、定标误差、大气辐射和衰减等不理想因素不会造成本方法的测量失真。
本发明授权一种基于毫米波辐射的复介电常数测量方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于毫米波辐射的复介电常数测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 1在一段时间t∈[0,T]内，保持测量目标的物理温度不变，控制以入射角θ1入射至目标表面的环境亮温Tinc处于变化状态，利用毫米波辐射计以入射角θ1测量时间[0,T]内目标的水平极化亮温Tht和垂直极化亮温Tvt； 2根据水平极化亮温Tht和垂直极化亮温Tvt计算目标的毫米波辐射特征量PDoP值； 3在入射角θ2,…,θN上重复步骤1～2，最终得到入射角θ1,θ2,…,θN上的毫米波辐射特征量PDoP值，依次记为PDoP1,PDoP2,…,PDoPN；其中，N≥3；所选取的入射角中包含60°； 4根据特征量PDoP1,PDoP2,…,PDoPN计算目标的复介电常数；通过求解以下方程组得到复介电常数∈的估计值： 其中，i＝1,2,···N。
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