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龙图腾网获悉中国计量大学申请的专利基于可拉伸超表面增强太赫兹吸收光谱的检测器件及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115436316B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211138792.X，技术领域涉及：G01N21/3581；该发明授权基于可拉伸超表面增强太赫兹吸收光谱的检测器件及方法是由严德贤;邱宇;李向军设计研发完成，并于2022-09-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于可拉伸超表面增强太赫兹吸收光谱的检测器件及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于可拉伸超表面增强太赫兹吸收光谱的检测器件及方法。该检测器件包括若干个具有相同参数的超表面单元结构组成；每个超表面单元结构由涂敷有金属薄膜的介质衬底构成。涂敷的金属薄膜构成金属微结构，该金属微结构由一个环形金属片和三个位于金属框内部的金属条组成。待测薄膜状分析物均匀涂布在检测器件表面。沿着金属条方向动态拉伸该检测器件改变超表面单元结构宽度，实现几何扫面，可以获得一系列的谐振频率。本发明基于金属超表面支持的SSP模式，可实现微量分析物宽带太赫兹吸收光谱增强，通过将一系列动态拉伸金属超表面得到的共振吸收峰连接起来形成包络线，可以建立增强的吸收光谱。

本发明授权基于可拉伸超表面增强太赫兹吸收光谱的检测器件及方法在权利要求书中公布了：1.一种利用检测器件的乳糖增强吸收光谱获取方法，其特征在于，所述检测器件为基于可拉伸超表面增强太赫兹吸收光谱的检测器件，包括若干具有相同结构参数的超表面单元结构周期排列而成；每个超表面单元结构包括介质衬底3和涂敷在介质衬底3表面的金属微结构薄膜2；金属微结构薄膜2由一个环形金属片和三个内置金属条组成；所述环形金属片呈矩形环状，其外边缘与环形金属片的上表面外边缘重合，三个内置矩形金属条等间隔布置于环形金属片内环的同一长边上，介质衬底3上表面没有被环形金属片和内置矩形金属条覆盖的位置均保持裸露；介质衬底3的裸漏部分和金属微结构薄膜2的表面用于涂布薄膜状待测物；所述介质衬底3的介质材料为有机聚合物，包括但不限于聚二甲基硅氧烷、聚乙烯或聚四氟乙烯；所述介质衬底3的长度为390～430μm，宽度为130～170μm，厚度为30～70μm；所述金属微结构薄膜2的材料为金、银或铜； 每个超表面单元结构的材料和尺寸完全相同，通过沿宽度方向动态拉伸涂敷金属微结构薄膜2的介质衬底3，可以使超表面单元结构具有不同的谐振频率； 基于所述检测器件的乳糖增强吸收光谱获取方法包括：将待测物乳糖以薄膜形式涂覆在介质衬底3上表面的裸漏部分和金属微结构薄膜2的表面，太赫兹波垂直入射到检测器件顶部并激发表面等离子体激元，通过探测太赫兹波反射和透射进一步计算得到太赫兹波的吸收；通过动态均匀拉伸检测器件，会使得构成检测器件的各个超表面单元结构的宽度同步产生均匀变化，并在变化过程中记录不同宽度对应的一系列不同谐振频率下的吸收谱；将不同谐振频率的吸收谱谐振峰连接形成包络线，获得乳糖的增强吸收光谱。

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