亚德诺半导体国际无限责任公司C·G·莱登获国家专利权
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龙图腾网获悉亚德诺半导体国际无限责任公司申请的专利阻抗测量电路中噪声的降低获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115701933B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202180041513.5,技术领域涉及:A61B5/00;该发明授权阻抗测量电路中噪声的降低是由C·G·莱登;T·J·坦斯利;O·J·布雷南设计研发完成,并于2021-06-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本阻抗测量电路中噪声的降低在说明书摘要公布了:具有允许减少闪烁噪声的阻抗测量电路的装置可以在各种应用中实现。可以实现载波抑制技术,其从载波信号的边带中去除与载波信号相关联的噪声伪影,从而基本上去除载波信号。AC阻抗测量电路中的载波抑制可以通过在测量电路的发射位置感测测量电路的载波信号并在测量电路接收位置减去载波信号的加权版本来实现。可以使用一个或多个补偿阻抗,使得在载波信号相对于接收位置被抑制的情况下接收载波信号的边带。
本发明授权阻抗测量电路中噪声的降低在权利要求书中公布了:1.一种阻抗测量装置,包括: 发射端口,用于将载波信号驱动到被测样本; 接收端口,用于响应于来自所述被测样本的所述载波信号的调制而接收所述载波信号的边带; 补偿阻抗,耦合在所述发射端口与所述接收端口之间,使得在所述载波信号相对于所述接收端口被抑制的情况下接收所述载波信号的所述边带; 混频器,用于将所述载波信号与所述载波信号的接收到的边带的版本混合;和处理装置,被配置为: 从关于所述补偿阻抗的阻抗信息,生成处于非调制状态的所述被测样本的阻抗值;和将处于所述非调制状态的所述被测样本的阻抗值与所述被测样本的来自所述接收到的边带的测量阻抗相结合。
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