南京理工大学何姿获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
龙图腾网获悉南京理工大学申请的专利基于PMCHWT积分方程对非均匀介质目标电磁散射特性的估计方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115859613B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211510660.5,技术领域涉及:G06F30/20;该发明授权基于PMCHWT积分方程对非均匀介质目标电磁散射特性的估计方法是由何姿;栾宇哲;赵敏;丁大志;樊振宏;孙永志;李由;国少卿;孙胜设计研发完成,并于2022-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于PMCHWT积分方程对非均匀介质目标电磁散射特性的估计方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于PMCHWT积分方程对非均匀介质目标电磁散射特性的估计方法,包括:通过FEKO软件进行建模;将关于介电常数的随机变量引入到PMCHWT积分方程中,将阻抗矩阵、右边向量和电流在随机变量中值处按照泰勒级数展开,通过矩量系数匹配的方法推导出电流矩矢量表达式,接着将伪谱法应用到AWE中,计算各阶的电流矩矢量;再通过有理Padé逼近,联立泰勒级数和Padé多项式,计算不同介质目标的电流以及雷达散射截面,最后通过多次采样得到所有RCS响应的均值和方差。相较于泰勒的方法,该方法拥有更大的收敛半径;相较于蒙特卡洛方法,该方法能够大幅度提高效率。
本发明授权基于PMCHWT积分方程对非均匀介质目标电磁散射特性的估计方法在权利要求书中公布了:1.一种基于PMCHWT积分方程对非均匀介质目标电磁散射特性的估计方法,其特征在于,步骤如下: 步骤1、通过FEKO软件进行建模,在FEKO中设置各项参数并且将模型进行剖分,将设置好的模型信息按照NAS文件导出;PMCHWT积分方程使用的RWG基函数与之相结合,任意目标中介质的介电常数用εr表示; 步骤2、将介电常数随机变量εr引入到PMCHWT方程中:将阻抗矩阵、右边向量和电流在随机变量中值处按照泰勒级数展开,通过矩量系数匹配的方法推导出电流矩矢量的表达式,接着将伪谱法引入到AWE中,由介电常数变化范围确定其中D矩阵,通过D矩阵,得到阻抗矩阵和矩矢量乘积的导数;通过有理Padé逼近,建立泰勒级数和Padé多项式的等式,计算出电流以及相对应的RCS;具体如下: 首先建立含有介电常数随机变量εr的PMCHWT方程: 其中,Zεr、Iεr、V表示为带有介质参数随机变量的阻抗矩阵,电流系数与右边向量; 式1写成以下的形式: Zεr·Iεr=V2接着将阻抗矩阵、电流在介电常数随机变量中值处按照泰勒级数展开: 其中N表示i的最大值,εr表示带有介质参数随机变量的未知量,表示介质参数随机变量的初始值,Ziεr表示带有随机变量的阻抗矩阵的i阶导数,mn表示n阶矩向量,L表示ai的阶次,M表示bj的阶次; 将3、4和右边向量代入2中有: 匹配式中等号左右各阶矩量系数,根据递推可得: 用降阶有理Padé函数逼近Iε: 联立两式,可得: 匹配9中各阶矩量系数,即得到ai,bj的表达式: 在区间ε∈[ε0‑Δε,ε0+Δε]内的满足下列关系的N+1个采样点通过GLC插值公式,矩阵Zε可逼近为其中为Chebyshev多项式TNx的导数,GLC插值公式的各项系数为TNx为Chebyshev多项式: [N2]为取整数操作;矩阵Zε的i阶导数可写成选取的GLC点的一阶导写为其中矩阵D的元素为将矩阵D记为伪谱求导矩阵;写成矩阵形式为矩阵D的元素的具体值为其中GLC点上的更高阶偏导写为根据ai、bj、mn得出总电流,再根据电流得出模型的电磁散射特性; 步骤3、多次采样中,介电常数的变化量在一定范围内随机产生,通过每次采样所产生的随机变化量,得到相应的电流以及RCS;得到每一次RCS后,对所有RCS响应进行统计分析得到具有不确定非均匀介质目标的电磁散射特性,计算出RCS响应的统计均值和方差。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人南京理工大学,其通讯地址为:210094 江苏省南京市孝陵卫200号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议,有机会获取IP积分或其他奖励