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龙图腾网获悉浙江工业大学申请的专利一种基于改进视觉注意机制的磁片瑕疵检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115908399B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211722655.0，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于改进视觉注意机制的磁片瑕疵检测方法是由姚明海;吴孟桐;项圣;顾勤龙设计研发完成，并于2022-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于改进视觉注意机制的磁片瑕疵检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种基于改进视觉注意机制的磁片瑕疵检测方法，包括如下步骤：获取待检测磁片图像，进行预处理；提取图像的亮度、朝向、边缘初级特征：基于亮度、朝向、边缘特征图像进行多尺度采样，构建多尺度金字塔；采取中央—周边差采样方式获取亮度、朝向、边缘特征对比映射图；基于亮度、朝向、边缘特征对比映射图归一化处理后合并为子显著图；基于亮度、朝向、边缘子显著图构建亮度、朝向、边缘显著图；基于亮度、朝向、边缘显著图归一化操作，线性相加得全局总显著图；基于全局总显著图检测磁片瑕疵区域。本发明提出了一种基于亮度、朝向、边缘三特征获取磁片瑕疵区域的方法，相较于传统ITTI算法对低对比度瑕疵目标检测适应性更高。

本发明授权一种基于改进视觉注意机制的磁片瑕疵检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于改进视觉注意机制的磁片瑕疵检测方法，其特征在于，包括如下步骤： S1.获取待检测磁片图像，针对其灰度值进行自适应阈值调整，强化图像信息； S2.提取磁片图像的亮度、朝向、边缘三种底层初级特征： S3.基于底层初级特征图像进行多尺度采样，构建多尺度金字塔； S4.基于多尺度金字塔构建全局显著图；具体包括： S41.采取中央—周边差采样方式获取亮度、朝向、边缘特征对比映射图，选取0,3、1,4、2,5三组图集，利用插值处理特征组图像，保持组内图像尺寸一致，降低单个像素点中反应的信息量，点对点作差映射出特征图像中的显著信息；S42.在缺乏自顶而下监督的情况下，定义一种图像归一化操作算子，计算最大值M和所有其他的局部极值的平均值m；最后将整幅图像与相乘，将显著图的取值范围确定到一个固定范围[0..255]； S43.基于以上步骤可分别得到亮度、朝向、边缘特征在0,3、1,4、2,5图集下的对比映射图，归一化特征对比映射图，抑制共性区域，突出显著区域将其合并为子特征显著图，所用公式如下：                              4               5                              6其中，表示亮度子特征显著图，表示朝向子特征显著图，表示边缘子特征显著图,；将上述亮度、朝向、边缘子特征显著图图集合并为显著图，所用公式如下：                            7                   8                           9其中，表示亮度显著图，表示朝向显著图，表示边缘显著图；对亮度显著图，朝向显著图和边缘显著图均进行归一化操作，得到权值相等的3幅图片，相加后去平均值得到全局总显著图，公式如下：                           10S5.基于最大化阈值分割处理全局总显著图，标注磁片瑕疵区域。

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