长鑫存储技术有限公司李银国获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利一种内存测试装置和内存测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116129985B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111350027.X，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种内存测试装置和内存测试方法是由李银国;郭恒飞设计研发完成，并于2021-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种内存测试装置和内存测试方法在说明书摘要公布了：本申请实施例提供了一种内存测试装置和内存测试方法，应用于包括第一控制模块和内存模块的电子设备；内存测试装置包括：寄存器模块，用于存储测试参数；第二控制模块，用于存储内存测试标记；内存测试标记用于指示第一控制模块向第二控制模块发送测试启动信息；功能选择模块，用于在第二控制模块接收到测试启动信息之后，控制第一控制模块与内存模块处于隔绝状态，且控制第二控制模块与内存模块处于接通状态，以使得内存测试装置处于测试模式；第二控制模块，还用于在内存测试装置处于测试模式后，根据测试参数对内存模块进行测试，得到测试结果。本申请实施例中的内存测试装置可以提高内存测试的效率。
本发明授权一种内存测试装置和内存测试方法在权利要求书中公布了：1.一种内存测试装置，其特征在于，应用于包括第一控制模块和内存模块的电子设备； 所述内存测试装置包括第二控制模块、寄存器模块和功能选择模块；其中，所述寄存器模块，用于存储测试参数； 所述第二控制模块，用于存储内存测试标记；其中，所述内存测试标记用于指示所述第一控制模块向所述第二控制模块发送测试启动信息； 所述功能选择模块，用于在所述第二控制模块接收到所述测试启动信息之后，控制所述第一控制模块与所述内存模块处于隔绝状态，且控制所述第二控制模块与所述内存模块处于接通状态，以使得所述内存测试装置处于测试模式； 第二控制模块，还用于在所述内存测试装置处于测试模式后，根据所述测试参数对所述内存模块进行测试，得到测试结果。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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