武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司方锑获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司申请的专利SandyMura量化方法、装置、设备及可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116342547B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310322170.0，技术领域涉及：G06F16/50；该发明授权SandyMura量化方法、装置、设备及可读存储介质是由方锑设计研发完成，并于2023-03-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本SandyMura量化方法、装置、设备及可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种SandyMura量化方法、装置、设备及可读存储介质，SandyMura量化方法包括：获取显示面板的检测图像，选取检测图像的一部分作为基准图像；将基准图像分别按照预设方向移动第一预设数量个像素得到若干个偏移图像；将基准图像分别减去偏移图像，得到若干个差异图像；对每一差异图像进行划分得到多个尺寸相同的矩形单元，分别计算每一差异图像中每一矩形单元的像素方差，得到若干个初始数组；根据若干个初始数组计算得到显示面板的SandyMura量化值。通过本发明，能够计算得出显示面板的SandyMura量化值，从而评估SandyMura的强弱程度，给存在SandyMura的显示面板评定等级。
本发明授权SandyMura量化方法、装置、设备及可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种SandyMura量化方法，其特征在于，所述SandyMura量化方法包括： 获取显示面板的检测图像，选取所述检测图像的一部分作为基准图像； 将所述基准图像分别按照预设方向移动第一预设数量个像素得到若干个偏移图像； 将所述基准图像分别减去所述偏移图像，得到若干个差异图像； 对每一所述差异图像进行划分得到多个尺寸相同的矩形单元，分别计算每一所述差异图像中每一所述矩形单元的像素方差，得到若干个初始数组； 计算若干个所述初始数组中全部或部分像素方差的平均数，得到所述显示面板的SandyMura量化值。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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