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龙图腾网获悉北京华航无线电测量研究所申请的专利一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116413527B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210108667.8，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统是由邓广宁;刘利杰;荣双龙;王旭平设计研发完成，并于2022-01-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统，属于加速贮存寿命试验技术领域，解决了现有技术中国内电子产品贮存寿命试验能力与评价能力低的问题。该系统包括：高温箱，用于对待评估电子产品进行加热，以提供进行高温应力测试所需的高温应力环境；控制模块，用于控制并调节高温箱的温度，记录待评估电子产品在高温应力测试中出现的A类故障次数以及故障时间；故障输出模块，用于获取高温应力测试中出现的故障类型，并将该故障类型输出至控制模块；试验时间计算模块，用于根据发生A类故障的故障次数以及故障时间，计算常温应力下总试验时间；贮存寿命评估模块，用于根据常温应力下总试验时间评估电子产品贮存寿命。

本发明授权一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统在权利要求书中公布了：1.一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统，其特征在于，包括： 高温箱，用于对待评估电子产品进行加热，以提供待评估电子产品进行高温应力测试所需的高温应力环境； 控制模块，用于控制高温箱的温度并根据产品的故障类型调节高温箱的温度，记录待评估电子产品在高温应力测试中出现的A类故障次数以及故障时间；故障输出模块，用于获取所述待评估电子产品在高温应力测试中出现的故障类型，并将该故障类型输出至控制模块； 所述控制模块，按照如下方式控制所述高温箱的温度并根据产品的故障类型调节高温箱的温度，以实现所述待评估电子产品的高温应力测试：在阶段高温应力测试中，控制高温箱温度为Tj，j初值为1，以Tj作为第j阶段高温应力测试的高温应力，对n个待评估产品进行测试；控制高温箱温度使其在高温应力Tj下保持M天后，控制高温箱温度恢复到正常温度应力T0，在正常温度应力下保持N小时后；控制加电模块对产品通电，进行通电测试； 若所述待评估电子产品无故障或出现B类故障，则控制模块继续控制高温箱以当前阶段的试验温度作为第j+1阶段高温应力测试的试验温度进行第j+1阶段高温应力测试； 若所述待评估电子产品出现一次A类故障，则控制模块控制高温箱在当前阶段的高温应力Tj基础上减Tth之后，作为第j+1阶段高温应力测试的高温应力进行第j+1阶段高温应力测试； 当测试时间达到测试总时间Tz，或出现A类故障次数为k时，控制模块控制高温箱关闭，结束测试； 所述控制模块，还用于在第一阶段高温应力测试开始时计时，并统计高温应力测试期间待评估产品发生A类故障的故障次数i以及第i次A类故障对应的故障时间ti； 试验时间计算模块，用于根据所述待评估电子产品在所述高温应力测试内发生A类故障的故障次数以及故障时间，计算常温应力下总试验时间； 贮存寿命评估模块，用于根据所述常温应力下总试验时间评估电子产品贮存寿命。

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