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龙图腾网获悉航天材料及工艺研究所申请的专利一种基于超声C扫描图像的复合材料缺陷统计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116519805B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310197053.6，技术领域涉及：G01N29/44；该发明授权一种基于超声C扫描图像的复合材料缺陷统计方法是由吴君豪;罗明;肖轲迪;赵建华;支凡;张颖;吴时红;何双起;陈博;金珂;徐林;卢鹉;马兆庆设计研发完成，并于2023-03-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于超声C扫描图像的复合材料缺陷统计方法在说明书摘要公布了：一种基于超声C扫描图像的复合材料缺陷统计方法，涉及超声无损检测技术领域。包括一种超声C扫描无损检测系统，该系统由超声探伤仪、超声波探头、自动扫查装置、探头位置标定装置、被检工件、扫描成像工控机、光学投影装置、扫描成像软件组成。其中，被检工件水平放置；超声波发射探头、探头位置标定装置、光学投影装置位于被检工件上方；超声波接收探头位于被检工件下方；自动扫查装置夹持超声波探头完成工件的扫描检测；扫描成像软件生成C扫描图像。另外，包括一种C扫描图像处理软件，完成C扫描图像缺陷信息自动统计、输出，生成缺陷示意图，实现材料内部缺陷信息的高效、准确统计，结合光学投影装置，辅助产品缺陷的标记。

本发明授权一种基于超声C扫描图像的复合材料缺陷统计方法在权利要求书中公布了：1.一种基于超声C 扫描图像的复合材料缺陷统计方法，其特征在于：包括以下步骤： S201、利用超声C 扫描无损检测系统，获取被检工件6的超声C 扫描图像； S202、通过缺陷对比试样确定评判缺陷的灰度色调阈值，在超声C 扫描图像中划分缺陷区域和非缺陷区域，获得黑白图像； S203、采用图像处理算法，降低黑白图像中缺陷噪点和弱连接现象；弱连接是指两块缺陷区域之间有1~2 个像素宽度的缺陷； S204、识别黑白图像中的缺陷区域，建立结构化二维数据，并将缺陷信息保存至结构化二维数据中； S205、设定缺陷阈值，根据缺陷阈值消除黑白图像中小于指定面积的缺陷区域、并更新至黑白图像和结构化二维数据； S206、提取黑白图像中缺陷区域的缺陷轮廓，绘制缺陷示意图，为缺陷标注序号，在缺陷内部添加剖面线，获得缺陷示意图； S207、根据工件摆放情况，对结构化二维数据中缺陷区域的位置进行修正； S208、保存缺陷示意图，根据结构化二维数据获得缺陷信息表格并保存； S209、借助缺陷示意图和光学投影装置8在被检工件6上绘制缺陷轮廓； 其中，所述步骤S202 包括： S2021、准备一件与被检工件6相同材质、厚度，且含人工缺陷的对比试样，完成超声C 扫描，从图像得到代表缺陷的灰度值或RGB 值阈值； S2022、采用相同的检测参数，完成被检工件6的超声C 扫描，获得超声C 扫描图像，判断超声C 扫描图像中的灰度值或RGB 值，将低于阈值的像素设置为黑色，代表缺陷区域，其余像素设置为白色，代表非缺陷区域； 所述步骤S203 中，图像处理算法包括： S2031、逐行扫描超声C 扫描图像，消除宽度小于指定值的像素块，宽度根据检测设备高斯噪声确定； S2032、通过腐蚀膨胀算法，降低图像噪点； 所述步骤S204 包括： 逐行扫描步骤S203 获得的黑白图像，缺陷区域为黑色连通域，识别黑色连通域，将各黑色连通域中黑色像素坐标、并保存于结构化二维数据中；缺陷信息包含缺陷数组，缺陷数组包含缺陷区域的序号、位置、面积信息。

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