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中国科学院上海高等研究院田纳玺获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院上海高等研究院申请的专利一种X射线散斑波前检测的模拟方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116642913B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310591939.9,技术领域涉及:G01N23/20;该发明授权一种X射线散斑波前检测的模拟方法是由田纳玺;蒋晖;谢佳楠设计研发完成,并于2023-05-24向国家知识产权局提交的专利申请。

一种X射线散斑波前检测的模拟方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种X射线散斑波前检测的模拟方法,包括:确定光源的能量以及可用实验范围,确定初始光波的复振幅分布,并且给出光波在空气传播路径上的光波衍射方程;确定光波穿过散射体或待测样品后的复振幅分布与透射函数的关系式,并确定散射体和待测样品的透射函数;确定光源、散射体、待测样品和探测器之间的距离,结合光波衍射方程、复振幅分布与透射函数的关系式、散射体和待测样品的透射函数,逐步计算确定探测器平面的波前复振幅分布;根据波前复振幅分布积分得到模拟衍射图样强度。本发明的方法可以模拟研究不同实验参数对散斑测量技术检测性能的影响,为该技术在实际应用中高效选择合适的实验参数提供理论指导和重要参考。

本发明授权一种X射线散斑波前检测的模拟方法在权利要求书中公布了:1.一种X射线散斑波前检测的模拟方法,其特征在于,包括: 步骤S1,选择光源的能量E和二维相干长度;由光源的能量E确定光源的波长λ和该波长下的可用实验范围,可用实验范围是散射体到探测器的距离的取值范围; 步骤S2,根据光路类型,确定初始光波的复振幅分布W,并且给出光波在散射体、待测样品和探测器之间的空气传播路径上的光波衍射方程; 步骤S3,根据模拟的散斑测量方法确定光波穿过散射体或待测样品后的复振幅分布与散射体或待测样品的透射函数的关系式,并且确定散射体和待测样品的透射函数; 步骤S4,根据所模拟的散斑测量方法确定光源、散射体、待测样品和探测器之间的距离以及散射体和待测样品的厚度分布,随后结合步骤S2的光波在散射体、待测样品和探测器之间的空气传播路径上的光波衍射方程、步骤S3的光波穿过散射体或待测样品后的复振幅分布与透射函数的关系式、以及散射体和待测样品的透射函数,逐步计算确定初始光波、经过散射体、待测样品后的光波的波前复振幅分布,直到确定探测器平面的波前复振幅分布WCCD; 步骤S5,根据探测器平面的波前复振幅分布WCCD,积分得到探测器平面的模拟衍射图样强度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院上海高等研究院,其通讯地址为:201210 上海市浦东新区海科路99号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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