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龙图腾网获悉传周半导体科技(上海)有限公司申请的专利一种编码器芯片偏位响应测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116734908B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310696943.1，技术领域涉及：G01D18/00；该发明授权一种编码器芯片偏位响应测试系统是由王晓曦;张义荣;高朕设计研发完成，并于2023-06-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种编码器芯片偏位响应测试系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种编码器芯片偏位响应测试系统，包括：测试机台，测试机台包括固定工装和偏位发生装置，固定工装上设置有测试电机、测试光源和码盘；码盘与测试电机的旋转轴连接；码盘上设置有透光孔；偏位发生装置上设置有编码器芯片，偏位发生装置包括水平位移台、俯仰位移台和旋转位移台；测试光源的光线穿过透光孔时照射到编码器芯片；测试电路，测试电路包括供电电源和示波器；示波器连接编码器芯片显示响应波形；偏位检测设备，用于检测编码器芯片的偏位数值，包括检测水平位移的双路干涉仪、检测旋转位移的光流传感器和检测俯仰位移的畸变检测相机。本发明提供的编码器芯片偏位响应测试系统，通过使用偏位检测设备，提高了测试结果的准确性。

本发明授权一种编码器芯片偏位响应测试系统在权利要求书中公布了：1.一种编码器芯片偏位响应测试系统，其特征在于，包括： 测试机台，所述测试机台包括固定工装和偏位发生装置； 所述固定工装上设置有测试电机、测试光源和码盘；所述码盘与所述测试电机的旋转轴连接；所述码盘上设置有透光孔，所述码盘旋转到所述透光孔正对所述测试光源时允许所述测试光源的光线穿过； 所述偏位发生装置上设置有编码器芯片，所述偏位发生装置包括分别调节所述编码器芯片的水平位移、俯仰位移和旋转位移的水平位移台、俯仰位移台和旋转位移台；所述测试光源的光线穿过所述透光孔时照射到所述编码器芯片； 测试电路，所述测试电路包括供电电源和示波器，所述供电电源给所述测试电机、所述测试光源和所述编码器芯片供电；所述示波器连接所述编码器芯片显示响应波形； 偏位检测设备，用于检测所述编码器芯片的偏位数值，包括检测水平位移的双路干涉仪、检测旋转位移的光流传感器和检测俯仰位移的畸变检测相机； 所述光流传感器包括检测光源和图像传感器，所述检测光源的光线照射到所述旋转位移台的侧面，所述图像传感器捕捉所述旋转位移台的侧面反射回的光线并记录二维图像矩阵；所述旋转位移台呈圆柱形，所述旋转位移台的侧面为粗糙表面，使得所述旋转位移台在不同的角度时，在所述图像传感器上形成不同的二维图像矩阵；通过对比所述二维图像矩阵计算旋转位移。

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