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龙图腾网获悉南方科技大学申请的专利基于光学超构表面的四分之一波片快轴检测装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117554035B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311343812.1，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权基于光学超构表面的四分之一波片快轴检测装置是由李贵新;马棋昌;胡子贤;李敬辉设计研发完成，并于2023-10-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于光学超构表面的四分之一波片快轴检测装置在说明书摘要公布了：本申请公开了一种光学检测装置，包括：光源、线偏振片、四分之一波片、光学超构表面和光检测单元，沿入射光传播方向依次布置线偏振片、四分之一波片和超构表面；超构表面包括透明衬底层和介质纳米柱层；四分之一波片的快轴具有第一角度，当第一角度为第一特性角度时，从四分之一波片出射的出射光为圆偏振光；光检测单元在第二角度方向上探测从超构表面出射的出射光的光功率，由光功率的最大值获得第二特性角度；由入射光波长、超构表面的几何参数及空气中的折射率获得折射角，当折射角与第二特性角度相等时，所述第一角度为所述第一特性角度。该装置不使用调制器或光谱仪，只需预先制备超构表面，大大减小了装置体积，实现了装置的小型化与集成化。

本发明授权基于光学超构表面的四分之一波片快轴检测装置在权利要求书中公布了：1.一种光学检测装置，其特征在于，该检测装置包括：光源15、线偏振片3、四分之一波片4、光学超构表面5和光检测单元，沿入射光传播方向依次布置所述线偏振片3、所述四分之一波片4和所述光学超构表面5，所述线偏振片3与所述四分之一波片4的轴线重合，构成检测装置的纵向轴线z轴；所述光源15发出的入射光8沿所述纵向轴线入射至所述线偏振片3；所述光学超构表面5包括透明衬底层和介质纳米柱层，所述透明衬底层迎向入射光，所述介质纳米柱层背向入射光，所述光学超构表面5的中心在所述纵向轴线上且所述透明衬底层与所述纵向轴线垂直； 所述线偏振片3的透射轴6固定在y方向上；所述光源15发出的入射光8经所述线偏振片3后，再入射至所述四分之一波片4；所述四分之一波片4的快轴7具有第一角度，所述第一角度为在迎着入射光的方向上，所述四分之一波片4的快轴7沿所述线偏振片3的透射轴6逆时针所旋转的角度；当所述第一角度为第一特性角度时，从所述四分之一波片4出射的出射光10为圆偏振光； 从所述四分之一波片4出射的出射光10入射至所述光学超构表面5的透明衬底层一侧，并从介质纳米柱层一侧出射；所述光检测单元布置在所述光学超构表面5出射光的一侧，且与所述光学超构表面5中心的距离保持不变，用于在第二角度方向上探测从所述光学超构表面5出射的出射光11的光功率；获得第二特性角度，所述第二特性角度为从所述光学超构表面5出射的出射光11的光功率具有最大值时对应的第二角度； 根据入射光波长、所述光学超构表面5的几何参数及空气的折射率获得折射角，当所述折射角与所述第二特性角度相等时，所述第一角度为所述第一特性角度； 所述光学超构表面5由沿特定方向周期性排列的光学超构单元组成，每个光学超构单元由8个超构功能基元组成；每个光学超构单元中的超构功能基元沿着+x方向排布，每个超构功能基元依次逆时针旋转π8角度，x、y、z方向构成右手直角坐标系； 所述超构功能基元由透明衬底1和介质纳米柱2组成，所述介质纳米柱2为垂直生长在所述透明衬底1上的长方体，所述长方体在x、y、z方向上分别具有长度尺寸L、W、H，所述长方体在x、y方向上具有周期长度Px与Py；由所述透明衬底1构成所述光学超构表面5的透明衬底层，由所述介质纳米柱2构成所述光学超构表面5的介质纳米柱层； 所述光学超构表面5的几何参数为所述超构功能基元的介质纳米柱2在x方向上的周期长度； 所述折射角由下式计算得到： 其中β+、β‑为两个折射角，β+0，β‑0，λd为入射光的波长，Px为所述超构功能基元的介质纳米柱2在x方向上的周期长度，nt为空气的折射率。

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