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龙图腾网获悉南开大学;北京英特森技术有限公司申请的专利基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119164842B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411327260.X，技术领域涉及：G01N15/02；该发明授权基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法及装置是由赵鹏;赵普生;李江;冯银厂;毕晓辉;贺艳云设计研发完成，并于2024-09-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法及装置在说明书摘要公布了：基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法及装置，该方法在待分析区域设定三个瞄点，在低加速电压和高加速电压下进行分析，分别获取三个瞄点的第一、第二瞄点位置坐标和每个颗粒的第一、第二颗粒位置坐标；获取三个瞄点的位置坐标差；计算获取瞄点的位置坐标差对颗粒的权重；计算获取每个颗粒在进行第二次分析时的预测中心坐标；计算获取每个颗粒在进行第二次分析时的坐标范围；搜索满足坐标范围的颗粒对每个颗粒的分析结果进行处理，获取每个颗粒的最终分析结果。本发明能够结合计算机控制扫描电镜——能谱技术在高加速电压下元素分析能力和低加速电压下成像能力的优势，更准确地捕获滤膜上的环境颗粒物。

本发明授权基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法及装置在权利要求书中公布了：1.基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法，其特征在于，包括： 将环境颗粒物样品放入扫描电镜样品仓中，并在待分析区域设定三个瞄点；在低加速电压下通过所述扫描电镜对所述环境颗粒物样品进行第一次分析，记录并获取所述三个瞄点的第一瞄点位置坐标、每个颗粒的第一颗粒位置坐标和最大粒径数据； 在高加速电压下通过所述扫描电镜对所述环境颗粒物样品进行第二次分析，记录并获取所述三个瞄点的第二瞄点位置坐标和每个颗粒的第二颗粒位置坐标； 通过计算获取所述三个瞄点的所述第一瞄点位置坐标与所述第二瞄点位置坐标的位置坐标差； 根据每个颗粒的所述第一颗粒位置坐标，通过计算获取每个颗粒到所述三个瞄点中每个瞄点的距离；根据每个颗粒到所述三个瞄点中每个瞄点的距离，计算获取所述三个瞄点中每个瞄点的所述位置坐标差对每个颗粒的权重； 根据每个颗粒的所述第一颗粒位置坐标和所述三个瞄点中每个瞄点的所述位置坐标差对每个颗粒的权重，通过反距离加权策略计算获取每个颗粒在进行所述第二次分析时的预测中心坐标； 根据每个颗粒的所述最大粒径数据和每个颗粒在进行所述第二次分析时的所述预测中心坐标，计算获取每个颗粒在进行所述第二次分析时的坐标范围；根据每个颗粒在进行所述第二次分析时的所述坐标范围，在所述第二次分析结果中搜索满足所述坐标范围的颗粒；根据搜索结果，对每个颗粒的分析结果进行处理，获取所述环境颗粒物中每个颗粒的最终分析结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南开大学;北京英特森技术有限公司，其通讯地址为：300350 天津市津南区海河教育园区同砚路38号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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