武汉精立电子技术有限公司;深圳精测光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司刘超获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉精立电子技术有限公司;深圳精测光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司申请的专利MTF测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119172642B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411200473.6，技术领域涉及：H04N23/69；该发明授权MTF测试方法及装置是由刘超;苗丹设计研发完成，并于2024-08-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本MTF测试方法及装置在说明书摘要公布了：一种MTF测试方法及装置，所述方法包括：获取拍摄相机和图卡之间的待测设备在初始角度下的初始拍摄画面；根据初始拍摄画面，确定待测设备拍摄面的两端分别超出拍摄相机和图卡之间拍摄区域的超出尺寸；根据超出尺寸，确定待测设备两端分别转动至拍摄区域内的需要的调整角度；获取根据调整角度旋转后的待测设备的补充拍摄画面；根据初始拍摄画面和补充拍摄画面，得到完全覆盖所述拍摄面的分析画面。通过在初始角度下获取待测设备的初始拍摄画面后，对待测设备进行旋转和补充拍摄，得到包括初始拍摄画面中未拍摄到的区域的补充拍摄画面，最终利用补充拍摄画面和初始拍摄画面即可得到完全覆盖拍摄面的分析画面，实现顺利进行后续MTF测试分析。
本发明授权MTF测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种MTF测试方法，其特征在于，所述方法包括： 获取拍摄相机和图卡之间的待测设备在初始角度下的初始拍摄画面； 根据所述初始拍摄画面，确定所述待测设备拍摄面的两端分别超出拍摄相机和图卡之间拍摄区域的超出尺寸； 根据所述超出尺寸，确定所述待测设备两端分别转动至所述拍摄区域内的需要的调整角度； 获取根据所述调整角度旋转后的所述待测设备的补充拍摄画面； 根据所述初始拍摄画面和所述补充拍摄画面，得到完全覆盖所述拍摄面的分析画面； 所述获取根据所述调整角度旋转后的所述待测设备的补充拍摄画面之前，包括以下步骤： 根据所述调整角度，调整所述图卡的展示画面。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉精立电子技术有限公司;深圳精测光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司，其通讯地址为：430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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