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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利自监督光场三维高分辨率重建方法、系统及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119444575B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411542854.2，技术领域涉及：G06T3/4053；该发明授权自监督光场三维高分辨率重建方法、系统及介质是由费鹏;孙佳豪;朱兰馨;李东宇;吴思岑设计研发完成，并于2024-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本自监督光场三维高分辨率重建方法、系统及介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种自监督光场三维高分辨率重建方法、系统及介质，属于显微成像领域，方法包括：采用光场成像系统和宽场成像系统对样品进行成像，获取样品的低分辨率光场图像以及样品的高分辨率宽场图像；通过模拟映射构建自监督训练样本得到高‑低分辨率的模拟光场训练图像对；以低分辨率模拟光场图像帧为输入，高分辨率模拟光场图像帧为标签，对二维超分辨率网络进行自监督训练；利用训练后的二维超分辨率网络，对第一步得到的样品低分辨率光场图像各个视角的图像帧进行超分辨，输出高分辨率推理光场图像帧，并进行三维重构，得到超分辨的目标样品三维图像。本方法可实现快速实时的光场超分辨三维成像，突破光场成像的轴向分辨率硬件极限。

本发明授权自监督光场三维高分辨率重建方法、系统及介质在权利要求书中公布了：1.一种自监督光场三维高分辨率重建方法，其特征在于，包括：自监督训练阶段S1‑S3和重建阶段S4； S1，对样品的高分辨率宽场图像进行模拟映射，以生成不同视角下的高分辨率模拟光场图像帧； S2，对各所述高分辨率模拟光场图像帧分别进行降采样，得到相应的低分辨率模拟光场图像帧，所述低分辨率模拟光场图像帧的分辨率与所述样品的低分辨率光场图像的分辨率相匹配，其中，低分辨率光场图像包括各视角下的光场图像帧； S3，以所述低分辨率模拟光场图像帧为输入，所述高分辨率模拟光场图像帧为标签，对二维超分辨率网络进行自监督训练； S4，利用训练后的二维超分辨率网络，对与所述样品同类别的目标体的低分辨率光场图像进行超分辨处理，并对超分辨处理得到的图像进行三维重建，得到超分辨率的目标体三维图像； 当所述目标体为所述样品时，所述自监督光场三维高分辨率重建方法还包括：分别利用宽场成像系统和光场成像系统对所述样品的同一视野进行成像，相应得到所述样品的高分辨率宽场图像和低分辨率光场图像； 所述S1具体包括：对样品的高分辨率宽场图像进行去卷积；利用低分辨率光场图像不同深度和不同方向上的点扩散函数对去卷积后的高分辨率宽场图像进行卷积运算，得到相应视角下的高分辨率模拟光场图像帧。

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