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北京理工大学洪家旺获国家专利权

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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利一种可分离压电的二维材料挠曲电系数测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119596007B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411750663.5,技术领域涉及:G01R29/00;该发明授权一种可分离压电的二维材料挠曲电系数测量方法是由洪家旺;伦应焯;梁超博;王廷钧设计研发完成,并于2024-12-02向国家知识产权局提交的专利申请。

一种可分离压电的二维材料挠曲电系数测量方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种可分离压电的二维材料挠曲电系数测量方法,包括:分别对N个距离值不同的样品进行测试,距离值为在一个样品中,沿底板的厚度方向上,二维材料的厚度平分面至样品的厚度平分面的距离,由于距离值影响二维材料的应变状态和压电极化,根据多个样品的总极化差异分离挠曲电贡献和压电贡献,从而准确测量出二维材料的挠曲电系数。

本发明授权一种可分离压电的二维材料挠曲电系数测量方法在权利要求书中公布了:1.一种可分离压电的二维材料挠曲电系数测量方法,其特征在于,包括: 提供N个样品,N为整数且N≥2,所述样品包括层叠件和顶板,所述层叠件包括顺次层叠的底板、底电极、微米级尺寸的二维材料和顶电极,所述顶板位于所述顶电极远离所述底板的一侧,所述层叠件与所述顶板之间采用粘合剂层连接;任意两个所述样品的距离值不同,在一个所述样品中,沿所述底板的厚度方向上,所述二维材料的厚度平分面至所述样品的厚度平分面的距离作为所述样品的距离值; 分别计算N个所述样品对应的表达式,包括:当计算第i个样品对应的表达式时,i为整数且1≤i≤N,测量所述第i个样品的距离值;对所述第i个样品进行M次测试,每次测试仅预设位移不同,M为整数且M≥2,包括:在对所述第i个样品进行第j次测试时,j为整数且1≤j≤M,将所述第i个样品放置于四点弯底座与四点弯压头之间,所述四点弯底座包括两个沿所述第i个样品的底板的长度方向上相对设置的支撑柱,所述四点弯压头靠近所述四点弯底座一侧包括两个沿所述第i个样品的底板的长度方向上相对设置的下压柱,所述第i个样品的底板与所述支撑柱抵接;沿所述第i个样品的底板的厚度方向上,所述第i个样品的二维材料的中心点、所述四点弯压头中心点的和所述四点弯底座的中心点重叠;沿所述第i个样品的底板的长度方向上,所述第i个样品的二维材料位于两个所述下压柱之间,所述下压柱位于两个所述支撑柱之间;将锁相放大器连接所述第i个样品的顶电极和所述第i个样品的底电极,采用函数发生器控制所述四点弯压头沿所述第i个样品的底板的厚度方向上移动所述预设位移,所述锁相放大器得到所述第i个样品在第j次测试时的测量电流;根据所述第i个样品在第j次测试时的测量电流和所述第i个样品在第j次测试时的所述预设位移,得到所述第i个样品的第j个测量挠曲电系数值;计算所述第i个样品的第1个测量挠曲电系数值至所述第i个样品的第M个测量挠曲电系数值的平均值,得到所述第i个样品的拟合挠曲电系数值;根据所述第i个样品的拟合挠曲电系数值、所述第i个样品的距离值、有效挠曲电系数和有效压电系数构建所述第i个样品对应的表达式; 采用线性拟合的方式拟合第1个样品对应的表达式至第N个样品对应的表达式得到拟合线,所述拟合线的截距值为所述二维材料的有效挠曲电系数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人北京理工大学,其通讯地址为:100081 北京市海淀区中关村南大街5号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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