中国电子科技集团公司第五十四研究所秦超获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第五十四研究所申请的专利一种基于天线方向图特征匹配的跟踪方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119726115B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411506835.4,技术领域涉及:H01Q3/00;该发明授权一种基于天线方向图特征匹配的跟踪方法是由秦超;李涛;刘昕;张硕;吕晓静;王一焕;黄元庆;宫玉松;刘宁;张振江设计研发完成,并于2024-10-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于天线方向图特征匹配的跟踪方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于天线方向图特征匹配的跟踪方法,涉及通信技术领域。本发明首先根据天线的三维方向图和跟踪精度要求,生成对应的离轴角数据对,并计算离轴角数据对的四象限反正切特征,天线指向信号强度最大值所在的角位置后停止跟踪,转入角位置引导模式,当信号强度降低了跟踪精度要求时执行单次椭圆轨迹扫描。最后,根据扫描过程中记录的数据,匹配离轴角数据对的四象限反正切特征,计算椭圆扫描旋转中心角位置与最大信号强度角位置处的角度偏差,驱动天线指向最大信号强度角位置。本发明有效的缓解了机械磨损,降低了功耗,提高了天线跟踪最大信号的精度和效率。
本发明授权一种基于天线方向图特征匹配的跟踪方法在权利要求书中公布了:1.一种基于天线方向图特征匹配的跟踪方法,其特征在于,包括以下步骤; 步骤1,根据天线的三维方向图和跟踪精度TP,获取M组均匀分布的离轴角数据对,i=0,1,2,3,......,M‑1; 其中,离轴角数据对对应的天线信号强度均为,为天线信号强度最大值; 步骤2,计算步骤1中M组离轴角数据对的四象限反正切特征; 步骤3,天线指向信号强度最大值所在的角位置后,转入角位置引导模式; 步骤4,当信号强度降低至时,执行单次椭圆轨迹扫描,并记录各个轨迹扫描点的角位置和信号强度数据; 步骤5,在单次椭圆轨迹扫描中,分别记录最大信号强度与最小信号强度所对应的角位置,并计算两个角位置对应离轴角中心位置处的四象限反正切特征; 步骤6,将步骤5得到的四象限反正切特征与步骤2中的M组四象限反正切特征进行匹配,根据匹配到的四象限反正切特征所对应的离轴角数据对,计算天线角位置偏差值,并驱动天线进行角位置修正,之后返回步骤3,完成基于天线方向图特征匹配的跟踪。
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