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龙图腾网获悉中国地质科学院水文地质环境地质研究所申请的专利一种沉积物测年校正方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119758436B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411817442.5，技术领域涉及：G01T7/00；该发明授权一种沉积物测年校正方法及系统是由张慧设计研发完成，并于2024-12-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种沉积物测年校正方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种沉积物测年校正方法及系统，涉及沉积物年代测量技术领域。该沉积物测年校正方法，获取待测湿地中的待测沉积物的每个沉积层的沉积物数据和土壤环境数据，并对这些数据进行预处理，分别对每个沉积层的沉积物数据和土壤环境数据进行分析，得到待测湿地中的待测沉积物的每个沉积层的14C、210Pb和226Ra的测年值及沉积土壤环境校正指数，并进行综合分析，计算出校正测年值，本发明通过对每个沉积层的校正测年值进行判断，基于每种判断分析的结果进行分析，最终得到待测湿地中的待测沉积物的每个沉积层的综合校正测年值，并进行统计分析以评估结果的可靠性，从而提升了沉积物年代的准确判定。

本发明授权一种沉积物测年校正方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种沉积物测年校正方法，其特征在于，包括以下步骤： 获取待测湿地中的待测沉积物的若干个沉积层的每次测量的沉积物数据、土壤环境数据，并进行预处理； 对预处理后待测湿地中的待测沉积物的每个沉积层的每次测量的沉积物数据、土壤环境数据分别进行数据分析，得到待测湿地中的待测沉积物的每个沉积层的每次测量的14C测年值、210Pb测年值、226Ra测年值、沉积土壤环境校正指数； 将待测湿地中的待测沉积物的每个沉积层的每次测量的14C测年值、210Pb测年值、226Ra测年值分别与沉积土壤环境校正指数进行综合分析，得到待测湿地中的待测沉积物的每个沉积层的14C校正测年值、210Pb校正测年值、226Ra校正测年值； 对于待测湿地中的待测沉积物的每个沉积层，分别判断14C校正测年值、210Pb校正测年值、226Ra校正测年值是否处于预设的校正测年范围之内，得到待测湿地中的待测沉积物的每个沉积层的若干种判断结果，并分别进行分析，得到待测湿地中的待测沉积物的每个沉积层的综合校正测年值； 其中，计算待测湿地中的待测沉积物的每个沉积层的14C校正测年值、210Pb校正测年值、226Ra校正测年值的具体公式如下： 其中，XzCi为待测湿地中的待测沉积物的第i个沉积层的14C校正测年值,CnZim为待测湿地中的待测沉积物的第i个沉积层的第m次测量的14C测年值，HjXim为待测湿地中的待测沉积物的第m次测量的第i个沉积层的沉积土壤环境校正指数，XzPi为待测湿地中的待测沉积物的第i个沉积层的210Pb校正测年值,PnZim为待测湿地中的待测沉积物的第i个沉积层的第m次测量的210Pb测年值，XzRi为待测湿地中的待测沉积物的第i个沉积层的226Ra校正测年值,RnZim为待测湿地中的待测沉积物的第i个沉积层的第m次测量的226Ra测年值，i＝1，2，3，…，i0，i0为沉积层个数，m＝1，2，3，…，m0，m0为测量次数。

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