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龙图腾网获悉上海电力大学申请的专利一种超导电缆交流损耗计算方法、装置及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119782670B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411599724.2，技术领域涉及：G06F17/11；该发明授权一种超导电缆交流损耗计算方法、装置及介质是由马爱清;张顺宁设计研发完成，并于2024-11-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种超导电缆交流损耗计算方法、装置及介质在说明书摘要公布了：本发明涉及一种超导电缆交流损耗计算方法、装置及介质，其中所述的方法包括获取超导电缆运行数据和结构参数；基于Kim扩展磁场效应利用运行数据和结构参数计算恒定临界电流密度下各层带材的外部磁场水平分量和外部磁场垂直分量；计算对应层带材的临界电流密度，并更新对应层的零场区域宽度参数；获取电流密度分布；更新带材外部磁场垂直分量；基于更新后的零场区域宽度参数和带材外部磁场垂直分量计算超导电缆的交流损耗；所述的装置及介质用于实现上述方法。与现有技术相比，本发明将交流损耗的计算简化为单一项使其计算更准确。

本发明授权一种超导电缆交流损耗计算方法、装置及介质在权利要求书中公布了：1.一种超导电缆交流损耗计算方法，其特征在于，该方法包括： 获取超导电缆运行数据和结构参数，所述的运行数据包括超导电缆的传输电流和电压；所述的结构参数包括超导电缆的层数、绕制半径、带材根数、绕制方向和绕制角度； 基于Kim扩展磁场效应利用运行数据和结构参数计算恒定临界电流密度下各层带材的外部磁场水平分量和外部磁场垂直分量； 根据所述的外部磁场水平分量和外部磁场垂直分量计算对应层带材的临界电流密度，并更新对应层的零场区域宽度参数； 根据零场区域宽度参数和临界电流密度获取电流密度分布； 基于电流密度分布和临界电流密度更新带材外部磁场垂直分量； 若更新后的零场区域宽度参数的误差小于预设值，则基于更新后的零场区域宽度参数和带材外部磁场垂直分量计算超导电缆的交流损耗；若更新后的零场区域宽度参数的误差不小于预设值，则重新计算对应层带材的临界电流密度； 计算超导电缆的交流损耗的方法为： 对更新后的带材外部磁场垂直分量沿宽度方向进行积分，再沿轴向按单位长度进行积分，得到单位长度内关于带材中心对称分布的垂直磁通，重复计算每一层带材的垂直磁通； 根据所有层带材的垂直磁通计算超导电缆单位长度的交流损耗。

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