武汉大学赵朴凡获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉大学申请的专利一种星载激光雷达几何参数检校精度估测方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119936851B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510330289.1，技术领域涉及：G01S7/497；该发明授权一种星载激光雷达几何参数检校精度估测方法、装置、设备及存储介质是由赵朴凡;张必一;马跃;周辉;张一衡;姜卫平设计研发完成，并于2025-03-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种星载激光雷达几何参数检校精度估测方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种星载激光雷达几何参数检校精度估测方法、装置、设备及存储介质，属于星载激光雷达技术领域。该方法包括：确定星载激光雷达对应的定位随机误差的统计特征；确定参考高程栅格数据中地形梯度的统计特征；将定位随机误差的统计特征和地形梯度的统计特征输入至定位参数检校精度估测模型，得到定位参数的检校精度估测结果；将定位参数的检校精度估测结果输入至测距与指向参数检校精度估测模型，得到测距与指向参数的检校精度估测结果。利用本发明提供的技术方案可以提高对星载激光雷达几何参数检校精度估测的有效性和效率，进而保障星载激光雷达测量数据的可靠性。
本发明授权一种星载激光雷达几何参数检校精度估测方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种星载激光雷达几何参数检校精度估测方法，其特征在于，所述几何参数包括定位参数以及测距与指向参数，所述方法包括： 确定星载激光雷达对应的定位随机误差的统计特征； 确定参考高程栅格数据中地形梯度的统计特征； 将所述定位随机误差的统计特征和所述地形梯度的统计特征输入至定位参数检校精度估测模型，得到所述定位参数的检校精度估测结果； 将所述定位参数的检校精度估测结果输入至测距与指向参数检校精度估测模型，得到所述测距与指向参数的检校精度估测结果。
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