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龙图腾网获悉江西荧光磁业有限公司申请的专利调控钕铁硼磁体粗晶层晶粒尺寸及粒径分布的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120108922B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510600661.6，技术领域涉及：H01F41/02；该发明授权调控钕铁硼磁体粗晶层晶粒尺寸及粒径分布的方法是由朱夏薇;王寰宇;赵家成;陆柄森设计研发完成，并于2025-05-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本调控钕铁硼磁体粗晶层晶粒尺寸及粒径分布的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了调控钕铁硼磁体粗晶层晶粒尺寸及粒径分布的方法，具体涉及钕铁硼磁体材料制备技术领域，包括：通过多阶段压力成型与致密化处理制备密度均匀的粉末预制体；在烧结升温与保温阶段，实时采集局部温度变化率与应力变化率；依据监测数据触发粗晶层组织演变评估，提取特征数据组；基于特征数据组计算扩散耦合不均指数与晶界迁移张量指数，输入机器学习模型，输出粗晶层异常风险等级，并据此动态调整烧结工艺参数；本发明通过结合实时监测局部温度与应力变化动态感知粗晶层异常演变，并基于特征数据组智能预测粗晶层晶粒尺寸异常风险等级，及时抑制粗晶粒异常生长，提升钕铁硼磁体微观组织一致性与服役性能稳定性。

本发明授权调控钕铁硼磁体粗晶层晶粒尺寸及粒径分布的方法在权利要求书中公布了：1.调控钕铁硼磁体粗晶层晶粒尺寸及粒径分布的方法，其特征在于，包括以下步骤： 第一步，采用多阶段压力成型与致密化处理方式，制备密度分布均匀且整体致密度达到预设范围内的粉末预制体； 第二步，在烧结升温和保温阶段，通过预先布设在预制体内部及表面的多个温度传感器与应变传感器，实时获取各位置局部温度变化数据与局部应力变化数据； 第三步，依据实时监测的局部温度变化率及局部应力变化率，判断是否触发粗晶层组织演变评估，当局部温度变化率或局部应力变化率超过预设阈值条件时，提取包括局部温度变化率、局部应力变化率、局部扩散速率估算值、局部晶界迁移速率估算值在内的特征数据组； 第四步，基于特征数据组计算扩散耦合不均指数与晶界迁移张量指数，并一同作为输入送入预训练完成的机器学习模型，输出粗晶层晶粒尺寸异常风险等级，进一步根据输出的风险等级，对烧结过程进行动态调整； 多阶段压力成型与致密化处理方式包括以下步骤：首先在预设低压条件下对钕铁硼粉末原料实施初步压制，形成具有连续结构且内部孔隙度低于初始粉末状态的初步预制体； 随后在整体施加均匀增压的基础上，通过连续叠加多次压力加载过程，每次加载幅度和持续时间依据预设压力升高曲线逐步增加，并保持增压过程中施加的压力方向稳定一致，并且在整个增压过程中，同步施加高频微振动； 在触发粗晶层组织演变评估后，提取特征数据组，特征数据组由局部温度变化率、局部应力变化率、局部扩散速率估算值与局部晶界迁移速率估算值组成； 其中局部扩散速率估算值通过获取局部实时温度数据，并依据扩散速率计算公式推算，扩散速率计算公式为局部扩散速率等于初始扩散速率乘以指数函数，指数函数的负指数项由扩散活化能除以局部实时温度与气体常数乘积得到，局部扩散速率按照以下计算公式得到： ； 表示监测点在位置处，时间时的扩散速率，为参考初始扩散速率常数，为材料扩散活化能，为气体常数，取8.314，表示监测点在位置处，时间时的实时温度； 局部晶界迁移速率估算值通过局部应力变化率测得的应力梯度，与晶界迁移驱动力线性响应系数相乘获得，晶界迁移驱动力线性响应系数依据钕铁硼磁体材料内部晶界能量与晶粒尺寸标定数据预设； 特征数据组中的各项数据同步按照时间戳进行配对。

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