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龙图腾网获悉珠海硅芯科技有限公司申请的专利基于eFPGA电路的集成电路的测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120405391B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510929472.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于eFPGA电路的集成电路的测试方法及装置是由赵毅;邹海权;符露;黄杰英;李少白;莫晓霖;陈钰文;胡坤梅设计研发完成，并于2025-07-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于eFPGA电路的集成电路的测试方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于eFPGA电路的集成电路的测试方法及装置，该方法包括设计包含有eFPGA电路的集成电路；对集成电路进行测试：在设置有多个集成电路的晶圆上，选取一个集成电路作为主节点，选取至少一个待测试的集成电路作为从节点；同构测试时，主节点的eFPGA电路通过环形总线广播位流和时钟信号，所有从节点的eFPGA电路同步加载配置信息；主节点的eFPGA电路通过环形总线输出测试激励信号，所有从节点的eFPGA电路接收测试激励信号后，执行测试并向主节点返回测试结果；异构测试时，利用eFPGA电路进行电路结构重构，将多个异构的集成电路进行分组，对于同一分组内的同构集成电路采用环形总线进行测试。该装置用于实现上述方法。本发明能够降低集成电路的测试成本。

本发明授权基于eFPGA电路的集成电路的测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.基于eFPGA电路的集成电路的测试方法，其特征在于，包括： 设计包含有eFPGA电路的集成电路，所述集成电路包含有多个元件以及多个硅通孔，设计所述集成电路时，按照各元件的信号流向要求，计算对所述元件和所述硅通孔布线的每一种布线路径的时延和功耗，根据所述硅通孔的冗余分组和复用策略设计出多个冗余路径分组，每一所述冗余路径分组中包含至少一条功能布线路径和至少一条冗余布线路径； 在设置有多个所述集成电路的晶圆上，选取其中一个所述集成电路作为主节点，选取至少一个待测试的所述集成电路作为从节点，对同构的所述集成电路进行测试时，使所述主节点与所述从节点形成环形总线架构；所述主节点的eFPGA电路通过所述环形总线广播位流和时钟信号，所有所述从节点的eFPGA电路同步加载配置信息；所述主节点的eFPGA电路通过所述环形总线输出测试激励信号，所有所述从节点的eFPGA电路接收所述测试激励信号后，执行相应的测试并向所述主节点返回测试结果； 对异构的集成电路进行测试时，所述主节点使得至少一个所述从节点的eFPGA电路动态的进行电路结构的重构，异步的将多个异构的集成电路进行分组，每一分组内包含有至少一个同构的集成电路，对于同一分组内的同构集成电路采用环形总线进行测试。

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