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龙图腾网获悉长江存储科技有限责任公司申请的专利集成电路测试设备及其测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115078971B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210794583.4，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权集成电路测试设备及其测试方法是由汝峰;张洋洋;陈轶;王梦达设计研发完成，并于2022-07-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本集成电路测试设备及其测试方法在说明书摘要公布了：本申请提供了一种集成电路测试设备及其测试方法。包括：接收第一指令，第一指令指示对至少一个目标被测器件执行测试操作；响应于第一指令，产生驱动信号集和选择信号；基于选择信号，结合第一映射表，确定多个被测器件组中每个测试通道的状态，状态包括使能状态、去使能状态其中之一；第一映射表包括测试通道与被测器件组、被测器件的待控管脚、选择信号之间的对应关系；每个被测器件组中的每个被测器件均具有对应的选择信号；根据驱动信号集，结合第二映射表，使得测试通道输出驱动信号；第二映射表包括多个被测器件的多个待控管脚与驱动信号集中的多个驱动信号之间的对应关系；利用驱动信号，对目标被测器件执行测试操作。

本发明授权集成电路测试设备及其测试方法在权利要求书中公布了：1.一种集成电路测试设备的测试方法，其特征在于，所述集成电路测试设备具有多个测试通道，每个所述测试通道与多个被测器件中的同一类型的待控管脚连接，每个所述被测器件包括多个不同类型的待控管脚；所述测试方法包括： 接收第一指令，所述第一指令指示对至少一个目标被测器件执行测试操作； 响应于所述第一指令，产生驱动信号集和选择信号； 基于所述选择信号，结合第一映射表，确定多个被测器件组中的每个所述目标被测器件连接的所述测试通道的状态，所述状态包括使能状态、去使能状态其中之一；所述第一映射表包括所述测试通道与所述被测器件组、所述被测器件的待控管脚、所述选择信号之间的对应关系；其中，多个所述被测器件被分成多个被测器件组；多个所述被测器件组中的每个所述目标被测器件均具有对应的所述选择信号； 根据所述驱动信号集，结合第二映射表，使得每个所述目标被测器件连接的所述测试通道输出驱动信号；所述第二映射表包括多个被测器件的多个待控管脚与所述驱动信号集中的多个驱动信号之间的对应关系；其中，所述待控管脚的类型和与其对应的所述驱动信号的类型相同； 利用所述驱动信号，对每个所述目标被测器件执行测试操作。

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