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湖南大学肖昌炎获国家专利权

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龙图腾网获悉湖南大学申请的专利基于单像素成像双目偏折术的物体形貌测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115711592B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211311856.1,技术领域涉及:G01B11/25;该发明授权基于单像素成像双目偏折术的物体形貌测量方法是由肖昌炎;黄威;夏立元设计研发完成,并于2022-10-25向国家知识产权局提交的专利申请。

基于单像素成像双目偏折术的物体形貌测量方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于单像素成像双目偏折术的物体形貌测量方法,包括:步骤S1:基于傅里叶单像素成像原理以及傅里叶中心切片产生多幅水平和垂直的傅里叶基频条纹图像;步骤S2:通过显示屏显示生成的多幅水平和垂直傅里叶基频条纹图案,并通过相机采集经过待测物体表面反射而发生扭曲的傅里叶基频条纹图案;步骤S3:基于单像素成像原理,对相机采集到的图像进行解算;步骤S4:组合为显示屏对应点坐标;步骤S5:基于双目偏折术,通过求得的显示屏坐标,在双目偏折术框架下,迭代重建待测物体上表面三维点云及表面法线,通过波前重构算法得到待测物体表面三维形貌。本发明具有原理简单、操作简便、抗干扰能力强、适用范围广等优点。

本发明授权基于单像素成像双目偏折术的物体形貌测量方法在权利要求书中公布了:1.一种基于单像素成像双目偏折术的物体形貌测量方法,其特征在于,包括: 步骤S1:基于傅里叶单像素成像原理以及傅里叶中心切片产生多幅水平和垂直的傅里叶基频条纹图像; 步骤S2:通过显示屏显示生成的多幅水平和垂直傅里叶基频条纹图案,并通过相机采集经过待测物体表面反射而发生扭曲的傅里叶基频条纹图案; 步骤S3:基于单像素成像原理,对相机采集到的图像进行解算,分别获取两个相机成像平面上像素点对应的光传输系数LTC水平投影和垂直投影曲线; 步骤S4:使用高斯函数分别拟合出LTC水平投影和垂直投影曲线峰值点坐标,组合为显示屏对应点坐标; 步骤S5:基于双目偏折术,通过求得的显示屏坐标,在双目偏折术框架下,迭代重建待测物体上表面三维点云及表面法线,通过波前重构算法得到待测物体表面三维形貌。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人湖南大学,其通讯地址为:410082 湖南省长沙市岳麓区麓山南路麓山门;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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