江苏鲁汶仪器股份有限公司杨宇新获国家专利权
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龙图腾网获悉江苏鲁汶仪器股份有限公司申请的专利一种降低MRAM磁隧道节损伤的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115715141B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110962630.7,技术领域涉及:H10N50/01;该发明授权一种降低MRAM磁隧道节损伤的方法是由杨宇新;李佳鹤;彭泰彦;胡冬冬;许开东设计研发完成,并于2021-08-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种降低MRAM磁隧道节损伤的方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种降低MRAM磁隧道节损伤的方法,包括:提供一基础结构,所述基础结构包括在第一方向上依次设置的衬底、下电极、MTJ层和上电极,所述第一方向垂直于所述衬底且由所述衬底指向所述下电极;从所述上电极背离所述衬底一侧的表面进行第一次刻蚀处理,直至暴露出所述下电极;对所述MTJ层的侧壁进行预处理,以使所述MTJ层的侧壁进行反应,形成一层预设厚度的改性层;进行第二次刻蚀处理,直至暴露出所述衬底。该方法通过对所述MTJ层的侧壁进行预处理以使所述MTJ层的侧壁进行反应,形成一层预设厚度的改性层,该改性层可以将后续刻蚀工艺中的入射离子进行散射处理,以最大程度的降低MTJ损伤。
本发明授权一种降低MRAM磁隧道节损伤的方法在权利要求书中公布了:1.一种降低MRAM磁隧道节损伤的方法,其特征在于,所述方法包括: 提供一基础结构,所述基础结构包括在第一方向上依次设置的衬底、下电极、MTJ层和上电极,所述第一方向垂直于所述衬底且由所述衬底指向所述下电极; 从所述上电极背离所述衬底一侧的表面进行第一次刻蚀处理,直至暴露出所述下电极; 对所述MTJ层的侧壁进行预处理,以使所述MTJ层的侧壁进行反应,形成一层预设厚度的改性层;其中,所述对所述MTJ层的侧壁进行预处理,以使所述MTJ层的侧壁进行反应,形成一层预设厚度的改性层,包括:在所述MTJ层的侧壁全部暴露出来之后,采用等离子束刻蚀方式对所述MTJ层的侧壁进行预处理,与所述MTJ层的侧壁进行反应,形成一层预设厚度的改性层;所述改性层用于将后续刻蚀工艺中的入射离子进行散射处理; 进行第二次刻蚀处理,直至暴露出所述衬底。
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