上海汉虹精密机械有限公司胡烺获国家专利权
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龙图腾网获悉上海汉虹精密机械有限公司申请的专利一种大平面工件的表面形貌测量装置及其方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115717881B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211508935.1,技术领域涉及:G01B21/20;该发明授权一种大平面工件的表面形貌测量装置及其方法是由胡烺;贺贤汉;叶国卿;冯博;黄家剑设计研发完成,并于2022-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种大平面工件的表面形貌测量装置及其方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种大平面工件的表面形貌测量装置及其方法。表面形貌测量方法,其包括:步骤1:在工件所需测量平面上选取若干特定直线路径作为测量路径,测量每个直线路径的平坦度曲线数据;步骤2:从所述若干测量路径的平坦度曲线数据中筛选出有效数据;步骤3:对所述有效数据依次进行以下处理:发现并填充离群值,删除缺失数据,从数据中去趋势,对含噪声的数据进行平滑处理,以及对数据进行填充与比例缩放;步骤4:在所述若干测量路径间,沿所述若干特定路径进行曲面插值拟合;步骤5:在三维直角坐标系中按照实际位置绘制全平面表面形貌。本发明提供了一种高精度模拟大平面表面形貌的测量方法,从而得到整个平面精度较高的表面形貌。
本发明授权一种大平面工件的表面形貌测量装置及其方法在权利要求书中公布了:1.一种大平面工件的表面形貌测量方法,其特征在于,包括: 步骤S1:在工件所需测量平面上选取若干特定直线路径作为测量路径,测量每个直线路径的平坦度曲线数据; 步骤S2:从若干测量路径的平坦度曲线数据中筛选出有效数据;所述步骤S2包括: 步骤S2.1:分别将每条特定直线路径对应的原始数据序列中的同时满足条件1和条件2的数据标记为NaN,将原始数据序列中除NaN之外的数据筛选为中间有效数据, 条件1:连续5个或以上数据呈标准线性变化的, 条件2:数据在开头或者结尾的位置; 步骤S2.2:将筛选出的中间有效数据中的同时满足条件1和条件3的数据标记为NaN,将中间有效数据中除NaN之外的数据筛选为两端有效数据, 条件1:连续5个或以上数据呈标准线性变化的, 条件3:数据不在开头或者结尾的位置; 步骤S3:对所述有效数据依次进行以下处理:发现并填充离群值,删除缺失数据,从数据中去趋势,对含噪声的数据进行平滑处理,以及对数据进行填充与比例缩放;所述步骤S3还包括:步骤S3.1:在筛选出的有效数据的基础上,发现并填充离群值;步骤S3.2:删除缺失数据:将在步骤S2中标记为NaN的数据从每条特定直线路径对应的填充离群值后的数据中删除;步骤S3.3:从每条特定直线路径对应的删除缺失数据后的数据中去除最佳直线拟合线,从而得到去趋势后的数据;步骤S3.4:对每条特定直线路径对应的去趋势后的数据进行平滑处理;步骤S3.5:对每条特定直线路径对应的平滑处理后的数据按位置进行填充与比例缩放;具体如下:对部件中较大的无测量数据的位置进行补充,按照部件的实际大小分别对若干测量路径的平坦度曲线数据进行比例缩放; 步骤S4:基于处理后的数据,在所述若干测量路径间,沿若干特定路径进行曲面插值拟合; 步骤S5:根据拟合后数据,在三维直角坐标系中按照实际位置绘制全平面表面形貌。
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