成都天奥技术发展有限公司刘刚获国家专利权
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龙图腾网获悉成都天奥技术发展有限公司申请的专利一种串行存储器测试向量生成方法及全地址测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115762613B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211428920.4，技术领域涉及：G11C29/00；该发明授权一种串行存储器测试向量生成方法及全地址测试方法是由刘刚;陈泳洁;范坤;杨晓;沈世科;黄凯冬设计研发完成，并于2022-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种串行存储器测试向量生成方法及全地址测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种串行存储器测试向量生成方法及全地址测试方法，包括：S1.获取串行存储器的结构和容量；S2.获取串行存储器的地址范围；S3.获取串行存储器的写入时序、读出时序和擦除时序；S4.依次进行页写入验证、写入使能操作、擦除命令，输入需要擦除数据的地址；S5.划分写入时序的结构；S6.将写入时序的固定语句部分、循环语句部分和变换语句部分实现出来，得到全部的串行存储器测试向量。S7.生成全地址写入测试向量；S8.测试数据读出比对，测试完成。本发明可以快速生成大容量串行存储器的测试向量文件，进行全地址测试，尽可能简化测试并提高测试效率。
本发明授权一种串行存储器测试向量生成方法及全地址测试方法在权利要求书中公布了：1.一种串行存储器测试向量生成方法，其特征在于，包括： S1.获取串行存储器的结构和容量； S2.获取所述串行存储器的地址范围； S3.获取所述串行存储器的写入时序、读出时序和擦除时序； S4.先进行一次页写入验证，再进行写入使能操作，然后进行擦除命令，输入需要擦除数据的地址； S5.划分写入时序的结构：将页写入时序的测试向量结构划分为固定语句部分、循环语句部分和变换语句部分； S6.利用高级语言将写入时序的固定语句部分、循环语句部分和变换语句部分实现出来，具体为：基于循环语句部分，将固定语句部分和变换语句部分从地址0开始，每写入一次后循环一次，并地址增1，直到所有地址循环完毕，得到全部的串行存储器测试向量。
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