天合光能股份有限公司韦磊获国家专利权
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龙图腾网获悉天合光能股份有限公司申请的专利一种封装检验方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115863773B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111114975.3，技术领域涉及：H01M10/058；该发明授权一种封装检验方法及系统是由韦磊;蒋治亿;刘冯新;王辉设计研发完成，并于2021-09-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种封装检验方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种封装检验方法及系统，其属于锂离子电池制造技术领域，包括将固定有极耳的电芯放入封装膜内并完成初步密封，初步密封后的封装膜具有抽真空口；通过抽真空口对装有电芯的封装膜进行抽真空封装处理，以使封装膜与电芯紧密贴合，并得到真空封装体；将真空封装体静置预设时长；对真空封装体进行封装检验，并确定真空封装体是否存在外观异常，当真空封装体存在外观异常时，确定封装膜与电芯不满足封装要求；当真空封装体不存在外观异常时，则确定封装膜与电芯满足封装要求。本发明能利用已有的电芯及封装膜就能够判定出电芯与封装膜的封装效果是否满足要求，缩短了对电芯及封装膜封装检验的时长，提高了封装检验的效率。
本发明授权一种封装检验方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种封装检验方法，其特征在于，包括如下步骤： 将固定有极耳的电芯放入封装膜内并完成初步密封，初步密封后的所述封装膜具有抽真空口； 通过所述抽真空口对装有所述电芯的所述封装膜进行抽真空封装处理，以使所述封装膜与所述电芯紧密贴合，并得到真空封装体； 将所述真空封装体静置预设时长； 对所述真空封装体进行封装检验，并确定所述真空封装体是否存在外观异常，当所述真空封装体存在外观异常时，确定所述封装膜与所述电芯不满足封装要求；当所述真空封装体不存在外观异常时，则确定所述封装膜与所述电芯满足封装要求； 所述封装检验方法还包括： 弯折所述真空封装体，并确定所述真空封装体被弯折后的曲率，当所述真空封装体被弯折后的曲率大于曲率预设值时，则确定所述封装膜与所述电芯不满足封装要求；当所述真空封装体被弯折后的曲率小于或等于所述曲率预设值时，则确定所述封装膜与所述电芯满足封装要求。
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