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龙图腾网获悉布鲁克光谱仪器公司申请的专利用于基于光谱测量来预测样品特性的系统和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116297281B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211533080.8，技术领域涉及：G01N21/35；该发明授权用于基于光谱测量来预测样品特性的系统和方法是由A·尼默勒设计研发完成，并于2022-12-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于基于光谱测量来预测样品特性的系统和方法在说明书摘要公布了：公开了一种用于基于从特定样品类型的样品获得的NIRMIR光谱预测样品的特性值的系统、方法和计算机程序产品。将小波变换应用于所获得的光谱以计算多个小波带中的小波系数的样品集。系统访问具有定义校准系数空间的小波系数的多个校准集的文库。校准集是通过从至少特定样品类型的校准样品获得的相应NIRMIR光谱的小波变换来计算的。每个校准集与相应校准样品的一个或多个参考特性值相关联。系统通过在校准系数空间中选择样品集的预定数量k个最近邻来创建样品的待确定特性值的局部PLS模型，并且基于所选择的k个最近邻及其相关联的参考特性值来计算局部PLS模型。通过将局部PLS模型应用于样品集来预测样品的特性值。

本发明授权用于基于光谱测量来预测样品特性的系统和方法在权利要求书中公布了：1.一种用于基于从特定样品类型ST1的样品201获得的NIRMIR光谱211预测所述样品201的特性值PV1的计算机实施的方法1000，所述方法包括： 将小波变换110应用于所获得的光谱211以计算多个小波带B0，B1，B2中的小波系数的样品集111； 访问包括定义校准系数空间311的小波系数的多个校准集311-1至311-n，311c的文库300，所述校准集311-1至311-n，311c是通过先前从至少所述特定样品类型ST1的校准样品获得的相应NIRMIR光谱300-1至300-n的小波变换来计算的，每个校准集与相应校准样品的一个或多个参考特性值PV-1至PV-n相关联，其中所述文库中的每个校准集具有秩R1，所述秩是通过对应局部回归模型针对相应校准集关于对应特性P1的交叉验证来确定的； 通过以下创建待确定的所述样品201的所述特性值PV1的局部PLS模型121： 在所述校准系数空间311中选择所述样品集111的预定义数量k个最近邻311k，并且 基于所选择的k个最近邻311k及其相关联的参考特性值来计算所述局部PLS模型121； 其中基于所选择的k个最近邻的秩来计算用于确定所述样品201的所述特性值PV1的所创建的局部PLS模型的秩； 通过将所述局部PLS模型121应用于所述样品集111来预测所述样品201的所述特性值PV1。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人布鲁克光谱仪器公司，其通讯地址为：德国埃特林根；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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