新唐科技股份有限公司洪嘉宏获国家专利权
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龙图腾网获悉新唐科技股份有限公司申请的专利裸晶测试系统及其测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116413575B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210938726.4，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权裸晶测试系统及其测试方法是由洪嘉宏设计研发完成，并于2022-08-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本裸晶测试系统及其测试方法在说明书摘要公布了：本公开提供一种裸晶测试系统及其测试方法。裸晶测试系统包括用以提供测试命令的控制装置与测试装置。测试装置包括具有温度补偿电阻串与校准电阻串的待测裸晶，测试装置依据测试命令进行频率测试操作。频率测试操作包括：在第一温度下，依序调整温度补偿电阻串为多个温度补偿电阻值，并依序调整校准电阻串来对待测裸晶进行输出频率校准，以产生多个校准电阻值；对多个温度补偿电阻值与多个校准电阻值进行插值运算；依序在第二温度与第三温度下依据多个经插值温度补偿电阻值与多个经插值校准电阻值进行输出频率测试以产生多个输出频率。
本发明授权裸晶测试系统及其测试方法在权利要求书中公布了：1.一种裸晶测试系统，其特征在于，包括： 控制装置，用以提供测试命令至测试装置；以及 测试装置，包括具有温度补偿电阻串与校准电阻串的待测裸晶，所述测试装置依据所述测试命令进行频率测试操作， 其中所述频率测试操作包括： 在第一温度下，所述测试装置依据所述测试命令依序调整所述温度补偿电阻串为多个温度补偿电阻值，并依序调整所述校准电阻串来对所述待测裸晶进行输出频率校准，以产生对应所述多个温度补偿电阻值的多个校准电阻值； 所述控制装置对所述多个温度补偿电阻值与所述多个校准电阻值进行插值运算，以产生多个经插值温度补偿电阻值与多个经插值校准电阻值；以及 所述测试装置依序在第二温度与第三温度下依据所述多个经插值温度补偿电阻值与所述多个经插值校准电阻值进行输出频率测试，以产生对应所述多个经插值温度补偿电阻值与所述多个经插值校准电阻值的多个输出频率。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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