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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利基于红外测温的气膜冷效和综合冷效同步测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116626004B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310595422.7，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权基于红外测温的气膜冷效和综合冷效同步测量方法是由谢刚;楼雨杼;李海旺;周志宇;孟龙;陶智设计研发完成，并于2023-05-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于红外测温的气膜冷效和综合冷效同步测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于红外测温的气膜冷效和综合冷效同步测量方法，包括：将测温元件埋入待测模型中，并在待测模型的表面均匀添加漆涂层，漆涂层包括：压敏漆涂层和黑色底漆涂层；获取处在若干种环境下的待测模型；基于每一种环境下的待测模型，通过科学相机拍摄待测模型，得到光强图像，通过红外相机拍摄待测模型，得到温度图像，基于测温元件，得到测温结果；基于温度图像和测温结果，得到待测模型表面的温度数据，将温度数据代入综合冷效计算公式，得到综合冷效；基于光强图像和温度数据，得到待测模型表面的氧分压数据，基于氧分压数据，得到气膜冷效。本发明能够同时获得待测表面的综合冷效和气膜冷效，降低气膜冷却实验难度。

本发明授权基于红外测温的气膜冷效和综合冷效同步测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于红外测温的气膜冷效和综合冷效同步测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 将测温元件埋入待测模型中，并在所述待测模型的表面均匀添加漆涂层，所述漆涂层包括：压敏漆涂层和黑色底漆涂层； 获取处在若干种环境下的待测模型；基于每一种环境下的待测模型，通过科学相机拍摄所述待测模型，得到光强图像，通过红外相机拍摄所述待测模型，得到温度图像，基于所述测温元件，得到测温结果； 若干种环境包括：第一环境、第二环境、第三环境和第四环境； 其中所述第一环境为无光、无流动环境； 所述第二环境为有光、无流动环境； 所述第三环境为有光有流动射流为空气的环境； 所述第四环境为有光有流动射流为异性气体的环境； 基于所述温度图像和所述测温结果，得到待测模型表面的温度数据，将所述温度数据代入综合冷效计算公式，得到综合冷效； 得到待测模型表面的温度数据的过程包括： 获取原位标定公式，将所述温度图像转换成温度二维矩阵，基于所述原位标定公式对所述温度二维矩阵对应的温度数据进行修订，得到修订后的温度数据； 获取原位标定公式的过程包括： 对所述温度图像进行处理，得到测温元件处的第一温度数值，获取测温元件记录的第二温度数值，基于所述第一温度数值和所述第二温度数值，得到原位标定公式； 基于所述光强图像和所述温度数据，得到待测模型表面的氧分压数据，基于所述氧分压数据，得到气膜冷效； 得到待测模型表面的氧分压数据的过程包括： 将所述光强图像转换为光强二维矩阵，基于所述光强二维矩阵和所述温度数据，计算得到待测模型表面的氧分压数据； 得到气膜冷效的过程包括： 基于所述第四环境中射流的氧气含量为零，将所述第四环境对应的氧分压数据代入气膜冷效计算公式，计算得到气膜冷效。

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