合肥利弗莫尔仪器科技有限公司朱海波获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥利弗莫尔仪器科技有限公司申请的专利一种基于光电检测的瑕疵检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117036274B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310992778.4，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于光电检测的瑕疵检测方法是由朱海波;黄莹莹;陈坚设计研发完成，并于2023-08-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于光电检测的瑕疵检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及瑕疵检测，具体涉及一种基于光电检测的瑕疵检测方法，获取待测元件图像，对待测元件图像进行瑕疵定位，并获取相应的原始模拟信号；对单个瑕疵的原始模拟信号的数字采样值进行排列，并对排列后的数字采样值进行上采样；基于原始模拟信号设置离散滑动窗口，利用离散滑动窗口对上采样的数字采样值进行子像素抽取，得到子像素抽取子集；计算子像素抽取子集对应的瑕疵等级；完成所有可能的子像素抽取方案，并将所有子像素抽取子集对应的最大瑕疵等级作为该瑕疵的瑕疵定级；遍历待测元件图像中的所有瑕疵，并获得相应的瑕疵定级位置分布图；本发明提供的技术方案能够有效克服现有技术所存在的不能较好地降低多次瑕疵检测结果波动性的缺陷。
本发明授权一种基于光电检测的瑕疵检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于光电检测的瑕疵检测方法，其特征在于：包括以下步骤： S1、获取待测元件图像，对待测元件图像进行瑕疵定位，并获取相应的原始模拟信号； S2、对单个瑕疵的原始模拟信号的数字采样值进行排列，并对排列后的数字采样值进行上采样； S3、基于原始模拟信号设置离散滑动窗口，利用离散滑动窗口对上采样的数字采样值进行子像素抽取，得到子像素抽取子集； S4、计算子像素抽取子集对应的瑕疵等级； S5、重复S3、S4，完成所有可能的子像素抽取方案，并将所有子像素抽取子集对应的最大瑕疵等级作为该瑕疵的瑕疵定级； S6、重复S2～S5，遍历待测元件图像中的所有瑕疵，并获得相应的瑕疵定级位置分布图，根据瑕疵定级位置分布图判断待测元件是否通过瑕疵检测。
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