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龙图腾网获悉郑州大学申请的专利一种基于图像识别的陶瓷封装基本表面缺陷检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118657724B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410711324.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于图像识别的陶瓷封装基本表面缺陷检测方法及系统是由陈勇强;范冰冰;王海龙;邵刚;罗玲;程宇;皇甫雅楠;宋博设计研发完成，并于2024-06-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于图像识别的陶瓷封装基本表面缺陷检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于图像识别的陶瓷封装基本表面缺陷检测方法及系统，对电子元件与陶瓷封装层之间的接触区域表面进行第一视觉采集与识别，得到两者之间的接触空间状态数据，对两者之间的接触紧密程度进行全局量化识别，以此确定两者之间的接触异常区域；再对接触异常区域进行图像画面提取与识别，更加细化分析两者的接触界面形貌数据，对两者的接触变化情况进行表征，以此确定两者之间的接触缺陷区域，实现对电子元件与陶瓷封装层的接触不紧密区域进行定位；还对陶瓷封装层的外表面进行第二视觉采集与识别，得到陶瓷封装层的外表面缺陷区域，并基于接触缺陷区域和外表面缺陷区域的相对位置关系信息，确定陶瓷封装层的结构缺陷区域，从而对电子元件的陶瓷封装层的结构缺陷进行全局化定位识别，提高对电子元件的良品甄别准确性。

本发明授权一种基于图像识别的陶瓷封装基本表面缺陷检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于图像识别的陶瓷封装基本表面缺陷检测方法，其特征在于，包括： 对电子元件与陶瓷封装层之间的接触区域表面进行第一视觉采集，得到接触区域表面图像；对所述接触区域表面图像进行识别，得到所述电子元件与所述陶瓷封装层之间的接触空间状态数据；对所述接触空间状态数据进行分析，确定所述电子元件与所述陶瓷封装层之间的接触异常区域； 基于所述接触异常区域的位置信息，对所述接触区域表面图像进行画面提取处理，得到相应的图像子画面；对所述图像子画面进行识别，得到相应的接触界面形貌数据；对所述接触界面形貌数据进行分析，确定所述电子元件与所述陶瓷封装层之间的接触缺陷区域； 对所述陶瓷封装层的外表面进行第二视觉采集，得到陶瓷层外表面图像；对所述陶瓷层外表面图像进行识别，得到所述陶瓷封装层的外表面缺陷区域；基于所述接触缺陷区域和所述外表面缺陷区域的相对位置关系信息，确定所述陶瓷封装层的结构缺陷区域； 基于所述接触缺陷区域和所述外表面缺陷区域的相对位置关系信息，确定所述陶瓷封装层的结构缺陷区域，包括： 将所述接触缺陷区域和所述外表面缺陷区域各自在所述陶瓷封装层对应的三维空间的位置信息进行对比，确定所述接触缺陷区域与所述外表面缺陷区域的最近相对距离；若所述最近相对距离小于预设距离阈值，则将所述接触缺陷区域和所述外表面缺陷区域占据的区域作为所述陶瓷封装层的结构缺陷区域；否则，不将所述接触缺陷区域和所述外表面缺陷区域确定为所述陶瓷封装层的结构缺陷区域。

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