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龙图腾网获悉奈米科学仪器装备(杭州)有限公司申请的专利暗光场景下辅助偏折术测量的透明光学元件实例分割方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119374860B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411313243.0，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权暗光场景下辅助偏折术测量的透明光学元件实例分割方法是由刘志平;刘马超;张强设计研发完成，并于2024-09-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本暗光场景下辅助偏折术测量的透明光学元件实例分割方法在说明书摘要公布了：本发明提出了一种暗光场景下辅助偏折术测量的透明光学元件实例分割方法，包括以下步骤：步骤S1、生成单频率的正弦条纹图像：步骤S2、暗光条件下，基于偏折测量系统采集正弦条纹图像；步骤S3、获取相位图像；步骤S4、改变透明光学元件的位置或者形状，执行步骤S2～S3；步骤S5、获取数据集，并训练神经网络模型；步骤S6、执行步骤S1～S3，获取待测透明光学元件的相位图像；步骤S7、将步骤S6输出的待测透明光学元件的相位图像输入至训练好的神经网络模型中，获取分割结果，即待测透明光学元件的掩模图像MASK1；步骤S8、将MASK1与原始条纹图逐像素相乘用于后续偏折术面型测量。本发明可准确、快速在暗光场景下进行透明光学元件实例分割。

本发明授权暗光场景下辅助偏折术测量的透明光学元件实例分割方法在权利要求书中公布了：1.一种暗光场景下辅助偏折术测量的透明光学元件实例分割方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1、生成单频率的正弦条纹图像：根据实验需求选择条纹的频率f，设置三步相移正弦条纹图像I1、I2和I3，其强度表示为： I2＝Ax,y+Bx,ycos[φx,y] 其中，Ax,y是背景光强，Bx,y是调制光强，是待求相位； 步骤S2、暗光条件下，基于偏折测量系统采集正弦条纹图像： 通过投影仪向待测透明光学元件上投射频率为f的正弦条纹图像I1、I2和I3,用相机在暗光条件下采集经透明光学元件反射后的三步相移正弦条纹图像I1、I2和I3； 步骤S3、获取相位图像： 相机采用相移算法对拍摄到的三步移相正弦条纹图像I1、I2和I3进行处理，求解出并输出对应的相位图像； 步骤S4、改变透明光学元件的位置或者形状，执行步骤S2～S3； 步骤S5、获取数据集，并训练神经网络模型； 其中，数据集获取步骤为：对相位图像进行人工标注后得到透明光学元件的掩模图像，使用相位图像和对应的透明光学元件的掩模图像构造数据集； 神经网络模型的输入为相位图像，输出为透明光学元件的掩模图像MASK0； 步骤S6、执行步骤S1～S3，获取待测透明光学元件的相位图像； 步骤S7、将步骤S6输出的待测透明光学元件的相位图像输入至训练好的神经网络模型中，获取分割结果，即待测透明光学元件的掩模图像MASK1； 步骤S8、将MASK1与原始条纹图逐像素相乘用于后续偏折术面型测量。

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